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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第107位 423件
（
2014年：第59位 659件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第95位 287件
（2014年：第54位 625件）
（ランキング更新日：2025年9月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5705290 | プラズマ処理装置 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5705495 | プラズマの処理方法及びプラズマ処理装置 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5705579 | 分析装置 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5705591 | プラズマ分光分析装置 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5705611 | 画像の正置からの回転角度検知装置および方法 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5705933 | 成膜装置 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5707021 | 磁場計測装置 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5707030 | 核酸分析デバイス、及び核酸分析装置 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5707082 | 液体の表面を浮遊する試料の走査電子顕微鏡観察方法 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5707253 | 冷却試薬保管庫及び核酸分析装置 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5707264 | 試料導入装置 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5701330 | 核酸配列解析装置に用いられる温度制御装置 | 2015年 4月15日 | |
| 特許 5703038 | プラズマ処理装置 | 2015年 4月15日 | |
| 特許 5703173 | 分注ノズルの洗浄方法、洗浄装置及びそれを搭載した分析装置 | 2015年 4月15日 | |
| 特許 5703376 | 自動分析装置 | 2015年 4月15日 |
288 件中 181-195 件を表示
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5705290 5705495 5705579 5705591 5705611 5705933 5707021 5707030 5707082 5707253 5707264 5701330 5703038 5703173 5703376
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