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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第107位 423件
（
2014年：第59位 659件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第95位 287件
（2014年：第54位 625件）
（ランキング更新日：2025年9月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5753846 | 液体混合装置、および液体クロマトグラフ | 2015年 7月22日 | |
| 特許 5753866 | プラズマ処理方法 | 2015年 7月22日 | |
| 特許 5748782 | 自動分析装置 | 2015年 7月15日 | |
| 特許 5744629 | 電子顕微鏡及び電子線を用いた撮像方法 | 2015年 7月 8日 | |
| 特許 5744923 | 自動分析装置 | 2015年 7月 8日 | |
| 特許 5744965 | 欠陥検査方法及びその装置 | 2015年 7月 8日 | |
| 特許 5745460 | 熱アシスト磁気ヘッド素子の検査方法及びその装置 | 2015年 7月 8日 | |
| 特許 5745957 | 位相板、および電子顕微鏡 | 2015年 7月 8日 | |
| 特許 5746085 | イオンビーム加工・観察装置およびそれを用いたイオンビーム加工・観察方法 | 2015年 7月 8日 | |
| 特許 5747129 | ステージ装置および試料観察装置 | 2015年 7月 8日 | |
| 特許 5743698 | ３次寄生収差の補正方法および荷電粒子線装置 | 2015年 7月 1日 | |
| 特許 5743950 | 走査電子顕微鏡 | 2015年 7月 1日 | |
| 特許 5743955 | パターン検査装置およびパターン検査方法 | 2015年 7月 1日 | |
| 特許 5738796 | 処理室割当設定装置及び処理室割当設定プログラム | 2015年 6月24日 | |
| 特許 5740246 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2015年 6月24日 |
288 件中 121-135 件を表示
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5753846 5753866 5748782 5744629 5744923 5744965 5745460 5745957 5746085 5747129 5743698 5743950 5743955 5738796 5740246
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