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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第138位 386件
（
2016年：第182位 243件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第90位 339件
（
2016年：第89位 360件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6147879 | オーバーレイ計測装置 | 2017年 6月14日 | |
| 特許 6142002 | 液体混合装置、および液体クロマトグラフ装置 | 2017年 6月 7日 | |
| 特許 6143549 | 検体処理システム | 2017年 6月 7日 | |
| 特許 6143584 | 検出装置および生体試料分析装置 | 2017年 6月 7日 | |
| 特許 6144419 | 顕微鏡観察容器および観察装置 | 2017年 6月 7日 | |
| 特許 6145002 | 自動分析装置 | 2017年 6月 7日 | |
| 特許 6145133 | 荷電粒子線装置 | 2017年 6月 7日 | |
| 特許 6138454 | 荷電粒子線装置 | 2017年 5月31日 | |
| 特許 6138460 | 荷電粒子線装置 | 2017年 5月31日 | |
| 特許 6138471 | 荷電粒子線装置 | 2017年 5月31日 | |
| 特許 6138564 | 自動分析装置 | 2017年 5月31日 | |
| 特許 6138653 | ドライエッチング方法 | 2017年 5月31日 | |
| 特許 6138942 | ナノチップとガス供給機構を備える荷電粒子線装置 | 2017年 5月31日 | |
| 特許 6138948 | 荷電粒子線装置及び試料画像取得方法 | 2017年 5月31日 | |
| 特許 6132688 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2017年 5月24日 |
341 件中 196-210 件を表示
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6147879 6142002 6143549 6143584 6144419 6145002 6145133 6138454 6138460 6138471 6138564 6138653 6138942 6138948 6132688
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