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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第138位 386件
（
2016年：第182位 243件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第90位 339件
（
2016年：第89位 360件）
（ランキング更新日：2025年5月23日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6132884 | 自動分析装置 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6133603 | 荷電粒子線装置用の検査データ処理装置 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6133725 | パターン測長装置及びパターン測長方法 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6134145 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置における軌道修正方法 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6134210 | 自動分析装置及び自動分析方法 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6134366 | 画像処理装置およびコンピュータプログラム | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6134816 | 細胞培養装置 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6134859 | 試料観察方法及び荷電粒子線装置 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6129568 | 自動分析装置 | 2017年 5月17日 | |
| 特許 6129630 | 熱アシスト磁気ヘッド素子の検査方法及びその装置、微小熱源の温度測定方法及びその装置並びにカンチレバーおよびその製造方法 | 2017年 5月17日 | |
| 特許 6129651 | ラインパターンの形状評価方法及びその装置 | 2017年 5月17日 | |
| 特許 6129982 | 電子顕微鏡 | 2017年 5月17日 | |
| 特許 6130120 | 画像処理装置、画像処理方法、及びコンピュータ読取可能な記憶媒体 | 2017年 5月17日 | |
| 特許 6130917 | 核酸分析装置およびその装置診断方法 | 2017年 5月17日 | |
| 特許 6126387 | 二重管構造試料吸引ノズルを備えた電解質分析装置 | 2017年 5月10日 |
341 件中 211-225 件を表示
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6132884 6133603 6133725 6134145 6134210 6134366 6134816 6134859 6129568 6129630 6129651 6129982 6130120 6130917 6126387
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