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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第194位 224件
（
2017年：第138位 386件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第121位 246件
（2017年：第90位 339件）
（ランキング更新日：2025年9月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6378927 | 計測システムおよび計測方法 | 2018年 8月22日 | |
| 特許 6379018 | 荷電粒子線装置および検査方法 | 2018年 8月22日 | |
| 特許 6379212 | 定位置制御装置、及び方法 | 2018年 8月22日 | |
| 特許 6373260 | 自動分析装置 | 2018年 8月15日 | |
| 特許 6373568 | 荷電粒子線装置 | 2018年 8月15日 | |
| 特許 6373879 | 自動分析装置 | 2018年 8月15日 | |
| 特許 6374035 | イオンミリング装置を備えた電子顕微鏡、および三次元再構築方法 | 2018年 8月15日 | |
| 特許 6374058 | 検体処理システム | 2018年 8月15日 | |
| 特許 6374597 | 荷電粒子線装置 | 2018年 8月15日 | |
| 特許 6374735 | 真空処理装置およびドライ洗浄方法 | 2018年 8月15日 | |
| 特許 6374989 | 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置用部材の製造方法 | 2018年 8月15日 | |
| 特許 6367351 | 細胞計測機構及びそれを有する細胞培養装置並びに細胞計測方法 | 2018年 8月 8日 | |
| 特許 6369860 | 欠陥観察方法及びその装置 | 2018年 8月 8日 | |
| 特許 6370085 | イオンビーム装置 | 2018年 8月 8日 | |
| 特許 6371101 | 核酸分析装置 | 2018年 8月 8日 |
248 件中 76-90 件を表示
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6378927 6379018 6379212 6373260 6373568 6373879 6374035 6374058 6374597 6374735 6374989 6367351 6369860 6370085 6371101
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