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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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 ■ 2018年 出願公開件数ランキング    第259位 139件 (下降2017年:第235位 177件)

 ■ 2018年 特許取得件数ランキング    第121位 246件 (下降2017年:第90位 339件)

(ランキング更新日:2026年10月30日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6368837 プラズマエッチング方法 2018年 8月 1日
特許 6368067 質量分析装置及び質量分析方法 2018年 8月 1日
特許 6368536 自動分析装置および分析方法 2018年 8月 1日
特許 6368808 プラズマ処理装置 2018年 8月 1日
特許 6362941 荷電粒子線装置 2018年 7月25日
特許 6363266 半導体装置の製造方法 2018年 7月25日
特許 6364167 環境制御型荷電粒子観察システム 2018年 7月25日
特許 6364282 荷電粒子線装置 2018年 7月25日
特許 6364427 検体搬送装置、検体前処理システム、分析システムおよび、検体検査自動化システム 2018年 7月25日
特許 6364246 攪拌装置、攪拌方法および当該攪拌装置を備えた自動分析装置 2018年 7月25日
特許 6360360 自動分析装置 2018年 7月18日
特許 6360620 荷電粒子線装置、荷電粒子線装置のアライメント方法、アライメントプログラム、及び記憶媒体 2018年 7月18日
特許 6357583 イオン液体を用いた試料の観察方法及び標本の生産方法 2018年 7月11日
特許 6357436 プラズマ処理装置 2018年 7月11日
特許 6351766 多色蛍光分析装置 2018年 7月 4日

248 件中 91-105 件を表示

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6368837 6368067 6368536 6368808 6362941 6363266 6364167 6364282 6364427 6364246 6360360 6360620 6357583 6357436 6351766

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