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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第194位 224件
（
2017年：第138位 386件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第121位 246件
（2017年：第90位 339件）
（ランキング更新日：2024年11月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6368067 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2018年 8月 1日 | |
| 特許 6368536 | 自動分析装置および分析方法 | 2018年 8月 1日 | |
| 特許 6368808 | プラズマ処理装置 | 2018年 8月 1日 | |
| 特許 6368837 | プラズマエッチング方法 | 2018年 8月 1日 | |
| 特許 6362941 | 荷電粒子線装置 | 2018年 7月25日 | |
| 特許 6363266 | 半導体装置の製造方法 | 2018年 7月25日 | |
| 特許 6364167 | 環境制御型荷電粒子観察システム | 2018年 7月25日 | |
| 特許 6364246 | 攪拌装置、攪拌方法および当該攪拌装置を備えた自動分析装置 | 2018年 7月25日 | |
| 特許 6364282 | 荷電粒子線装置 | 2018年 7月25日 | |
| 特許 6364427 | 検体搬送装置、検体前処理システム、分析システムおよび、検体検査自動化システム | 2018年 7月25日 | |
| 特許 6360360 | 自動分析装置 | 2018年 7月18日 | |
| 特許 6360620 | 荷電粒子線装置、荷電粒子線装置のアライメント方法、アライメントプログラム、及び記憶媒体 | 2018年 7月18日 | |
| 特許 6357436 | プラズマ処理装置 | 2018年 7月11日 | |
| 特許 6357583 | イオン液体を用いた試料の観察方法及び標本の生産方法 | 2018年 7月11日 | |
| 特許 6351458 | プラズマ処理装置 | 2018年 7月 4日 |
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6368067 6368536 6368808 6368837 6362941 6363266 6364167 6364246 6364282 6364427 6360360 6360620 6357436 6357583 6351458
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