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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第194位 224件
（
2017年：第138位 386件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第121位 246件
（2017年：第90位 339件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6393173 | 位置推定方法及び位置推定システム | 2018年 9月19日 | |
| 特許 6386655 | テラヘルツ波発生装置及びそれを用いた分光装置 | 2018年 9月12日 | |
| 特許 6388554 | プラズマ処理装置 | 2018年 9月12日 | |
| 特許 6389248 | 液体試料中の分析物を検出する電気化学発光法および分析システム | 2018年 9月12日 | |
| 特許 6385299 | 液体クロマトグラフ用遠紫外吸光度検出装置 | 2018年 9月 5日 | |
| 特許 6385545 | 自動分析装置およびメンテナンス方法 | 2018年 9月 5日 | |
| 特許 6381773 | コントロール運用方法、および自動分析装置 | 2018年 8月29日 | |
| 特許 6381779 | テラヘルツ波測定装置 | 2018年 8月29日 | |
| 特許 6381986 | 自動分析装置 | 2018年 8月29日 | |
| 特許 6383522 | 異物を発塵させる装置および発塵要因分析装置 | 2018年 8月29日 | |
| 特許 6383650 | 荷電粒子線装置 | 2018年 8月29日 | |
| 特許 6377849 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の制御方法 | 2018年 8月22日 | |
| 特許 6378096 | 自動分析装置 | 2018年 8月22日 | |
| 特許 6378360 | イオンビーム装置 | 2018年 8月22日 | |
| 特許 6378924 | 核酸分析装置および核酸分析方法 | 2018年 8月22日 |
248 件中 61-75 件を表示
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6393173 6386655 6388554 6389248 6385299 6385545 6381773 6381779 6381986 6383522 6383650 6377849 6378096 6378360 6378924
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