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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第194位 224件
（
2017年：第138位 386件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第121位 246件
（2017年：第90位 339件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6340165 | 電子銃、荷電粒子銃およびそれらを用いた荷電粒子線装置 | 2018年 6月 6日 | |
| 特許 6340216 | 走査電子顕微鏡 | 2018年 6月 6日 | |
| 特許 6340245 | 自動分析装置 | 2018年 6月 6日 | |
| 特許 6340474 | 光計測装置及び光計測方法 | 2018年 6月 6日 | |
| 特許 6333550 | 自動分析装置 | 2018年 5月30日 | |
| 特許 6333842 | 細胞培養装置 | 2018年 5月30日 | |
| 特許 6334112 | 自動分析装置 | 2018年 5月30日 | |
| 特許 6334243 | 荷電粒子線装置 | 2018年 5月30日 | |
| 特許 6334296 | プラズマ処理方法 | 2018年 5月30日 | |
| 特許 6334369 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2018年 5月30日 | |
| 特許 6335328 | 荷電粒子線装置、チャンバースコープ、及び対象物検出方法 | 2018年 5月30日 | |
| 特許 6335411 | 標本の観察方法 | 2018年 5月30日 | |
| 特許 6327938 | 自動分析装置 | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6328023 | イオンビーム装置 | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6328468 | 欠陥検査装置および検査方法 | 2018年 5月23日 |
248 件中 121-135 件を表示
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6340165 6340216 6340245 6340474 6333550 6333842 6334112 6334243 6334296 6334369 6335328 6335411 6327938 6328023 6328468
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