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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第177位 270件
（
2018年：第194位 224件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第110位 254件
（2018年：第121位 246件）
（ランキング更新日：2025年2月14日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6611398 | 分離カラム接続装置、接続方法及び分析システム | 2019年11月27日 | |
| 特許 6612318 | 自動分析装置及び蓋開閉機構 | 2019年11月27日 | |
| 特許 6613212 | 気泡除去構造、及び気泡除去方法 | 2019年11月27日 | |
| 特許 6607787 | 自動分析装置 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6608790 | サーバ、制御システム、制御方法、及び、制御プログラム | 2019年11月20日 | |
| 特許 6609379 | イオン分析装置 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6609425 | プラズマ処理装置 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6609489 | 電解質分析装置 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6609535 | プラズマ処理方法 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6609664 | プラズマ処理装置 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6609702 | 保冷加温装置、及び分析装置 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6602383 | 自動分析装置および検体検査自動化システム | 2019年11月13日 | |
| 特許 6605276 | 計測装置、計測装置の校正方法および校正部材 | 2019年11月13日 | |
| 特許 6605576 | 自動分析装置 | 2019年11月13日 | |
| 特許 6605603 | 遠赤外分光装置 | 2019年11月13日 |
255 件中 16-30 件を表示
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6611398 6612318 6613212 6607787 6608790 6609379 6609425 6609489 6609535 6609664 6609702 6602383 6605276 6605576 6605603
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2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
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2月20日(木) -
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
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2月22日(土) - 東京 板橋区
2月17日(月) - 大阪 大阪市
（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
2月25日(火) -
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