株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2019年出願公開件数ランキング　　　第177位　270件（2018年：第194位　224件）

　■　2019年特許取得件数ランキング　　　第110位　254件（2018年：第121位　246件）

（ランキング更新日：2025年4月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6580215	プラズマ処理方法	2019年 9月25日
特許 6580731	プラズマ処理装置およびそれを用いたプラズマ処理方法	2019年 9月25日
特許 6581387	プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法	2019年 9月25日
特許 6581707	核酸分析装置、および核酸分析方法	2019年 9月25日
特許 6581726	自動分析装置及び自動分析方法	2019年 9月25日
特許 6581835	半導体デバイスの評価条件設定方法、及び評価条件設定装置	2019年 9月25日
特許 6581905	自動分析装置	2019年 9月25日
特許 6581940	電子顕微鏡装置	2019年 9月25日
特許 6582070	分析方法	2019年 9月25日
特許 6576257	荷電粒子検出器、及び荷電粒子線装置	2019年 9月18日
特許 6576768	自動分析装置	2019年 9月18日
特許 6576833	自動分析装置	2019年 9月18日
特許 6576843	自動分析装置及びその散乱光測定光学系評価用標準液	2019年 9月18日
特許 6574903	イオンミリング装置	2019年 9月11日
特許 6564849	自動分析装置及び自動分析方法	2019年 9月 4日

255 件中 61-75 件を表示

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6580215 6580731 6581387 6581707 6581726 6581835 6581905 6581940 6582070 6576257 6576768 6576833 6576843 6574903 6564849

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