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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第177位 270件
（
2018年：第194位 224件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第110位 254件
（2018年：第121位 246件）
（ランキング更新日：2025年7月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6580215 | プラズマ処理方法 | 2019年 9月25日 | |
| 特許 6580731 | プラズマ処理装置およびそれを用いたプラズマ処理方法 | 2019年 9月25日 | |
| 特許 6581387 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2019年 9月25日 | |
| 特許 6581707 | 核酸分析装置、および核酸分析方法 | 2019年 9月25日 | |
| 特許 6581726 | 自動分析装置及び自動分析方法 | 2019年 9月25日 | |
| 特許 6581835 | 半導体デバイスの評価条件設定方法、及び評価条件設定装置 | 2019年 9月25日 | |
| 特許 6581905 | 自動分析装置 | 2019年 9月25日 | |
| 特許 6581940 | 電子顕微鏡装置 | 2019年 9月25日 | |
| 特許 6582070 | 分析方法 | 2019年 9月25日 | |
| 特許 6576257 | 荷電粒子検出器、及び荷電粒子線装置 | 2019年 9月18日 | |
| 特許 6576768 | 自動分析装置 | 2019年 9月18日 | |
| 特許 6576833 | 自動分析装置 | 2019年 9月18日 | |
| 特許 6576843 | 自動分析装置及びその散乱光測定光学系評価用標準液 | 2019年 9月18日 | |
| 特許 6574903 | イオンミリング装置 | 2019年 9月11日 | |
| 特許 6564849 | 自動分析装置及び自動分析方法 | 2019年 9月 4日 |
255 件中 61-75 件を表示
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6580215 6580731 6581387 6581707 6581726 6581835 6581905 6581940 6582070 6576257 6576768 6576833 6576843 6574903 6564849
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