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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2019年 出願公開件数ランキング    第177位 270件 上昇2018年:第194位 224件)

  2019年 特許取得件数ランキング    第110位 254件 上昇2018年:第121位 246件)

(ランキング更新日:2021年6月18日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6580215 プラズマ処理方法 2019年 9月25日
特許 6580731 プラズマ処理装置およびそれを用いたプラズマ処理方法 2019年 9月25日
特許 6581387 プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 2019年 9月25日
特許 6581707 核酸分析装置、および核酸分析方法 2019年 9月25日
特許 6581726 自動分析装置及び自動分析方法 2019年 9月25日
特許 6581835 半導体デバイスの評価条件設定方法、及び評価条件設定装置 2019年 9月25日
特許 6581905 自動分析装置 2019年 9月25日
特許 6581940 電子顕微鏡装置 2019年 9月25日
特許 6582070 分析方法 2019年 9月25日
特許 6576257 荷電粒子検出器、及び荷電粒子線装置 2019年 9月18日
特許 6576768 自動分析装置 2019年 9月18日
特許 6576833 自動分析装置 2019年 9月18日
特許 6576843 自動分析装置及びその散乱光測定光学系評価用標準液 2019年 9月18日
特許 6574903 イオンミリング装置 2019年 9月11日
特許 6564849 自動分析装置及び自動分析方法 2019年 9月 4日

255 件中 61-75 件を表示

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6580215 6580731 6581387 6581707 6581726 6581835 6581905 6581940 6582070 6576257 6576768 6576833 6576843 6574903 6564849

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