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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第177位 270件
（
2018年：第194位 224件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第110位 254件
（2018年：第121位 246件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6606560 | 荷電粒子線装置およびその制御方法 | 2019年11月13日 | |
| 特許 6602367 | 自動分析装置 | 2019年11月 6日 | |
| 特許 6602581 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2019年11月 6日 | |
| 特許 6602753 | 自動分析装置 | 2019年11月 6日 | |
| 特許 6602873 | 自動分析装置 | 2019年11月 6日 | |
| 特許 6600367 | 分析装置 | 2019年10月30日 | |
| 特許 6592433 | 自動分析装置 | 2019年10月23日 | |
| 特許 6594431 | イオン濃度測定装置 | 2019年10月23日 | |
| 特許 6594434 | 回路検査方法および試料検査装置 | 2019年10月23日 | |
| 特許 6594664 | プラズマ処理装置 | 2019年10月23日 | |
| 特許 6595334 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2019年10月23日 | |
| 特許 6595335 | プラズマ処理装置 | 2019年10月23日 | |
| 特許 6596295 | 荷電粒子線装置 | 2019年10月23日 | |
| 特許 6591565 | 質量分析装置及びそのイオン検出方法 | 2019年10月16日 | |
| 特許 6591932 | 自動分析装置 | 2019年10月16日 |
255 件中 31-45 件を表示
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6606560 6602367 6602581 6602753 6602873 6600367 6592433 6594431 6594434 6594664 6595334 6595335 6596295 6591565 6591932
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