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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2019年 出願公開件数ランキング    第177位 270件 上昇2018年:第194位 224件)

  2019年 特許取得件数ランキング    第110位 254件 上昇2018年:第121位 246件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6542133 自動分析装置 2019年 7月10日
特許 6542893 分注装置及び自動分析装置 2019年 7月10日
特許 6543532 自動分析装置 2019年 7月10日
特許 6543537 ステージ装置およびそれを用いた荷電粒子線装置 2019年 7月10日
特許 6537422 自動分析装置および自動分析装置における試料分注方法 2019年 7月 3日
特許 6539109 荷電粒子線装置及び試料昇降装置 2019年 7月 3日
特許 6539113 プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 2019年 7月 3日
特許 6539367 自動分析装置の反応容器 2019年 7月 3日
特許 6539779 荷電粒子顕微鏡および試料撮像方法 2019年 7月 3日
特許 6535811 荷電粒子線装置 2019年 6月26日
特許 6532425 磁界計測装置、磁界計測方法、磁界計測プログラム 2019年 6月19日
特許 6532486 液面検査装置、自動分析装置および処理装置 2019年 6月19日
特許 6533312 試料ホルダ、イオンミリング装置、試料加工方法、試料観察方法、及び試料加工・観察方法 2019年 6月19日
特許 6529591 発光分析用検出装置および自動分析装置 2019年 6月12日
特許 6529920 電界放出電子源、その製造方法および電子線装置 2019年 6月12日

255 件中 121-135 件を表示

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6542133 6542893 6543532 6543537 6537422 6539109 6539113 6539367 6539779 6535811 6532425 6532486 6533312 6529591 6529920

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