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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第191位 225件
（
2019年：第177位 270件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第127位 223件
（2019年：第110位 254件）
（ランキング更新日：2024年11月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6636472 | 電子源およびそれを用いた電子線装置 | 2020年 1月29日 | |
| 特許 6636499 | 自動分析装置および自動分析装置用液体容器 | 2020年 1月29日 | |
| 特許 6637055 | イオンミリング装置 | 2020年 1月29日 | |
| 特許 6637103 | 標本の観察方法 | 2020年 1月29日 | |
| 特許 6637407 | 自動分析装置 | 2020年 1月29日 | |
| 特許 6637612 | 磁気トンネル接合素子の製造方法およびプラズマ処理装置 | 2020年 1月29日 | |
| 特許 6638029 | 検体処理システム | 2020年 1月29日 | |
| 特許 6633737 | キャピラリ電気泳動装置 | 2020年 1月22日 | |
| 特許 6633986 | 荷電粒子線装置 | 2020年 1月22日 | |
| 特許 6629190 | 自動分析装置 | 2020年 1月15日 | |
| 特許 6629299 | 検体搬送装置および検体処理システム | 2020年 1月15日 | |
| 特許 6629442 | 荷電粒子線装置の試料加工方法 | 2020年 1月15日 | |
| 特許 6629832 | 自動分析装置 | 2020年 1月15日 | |
| 特許 6630649 | プラズマ処理方法 | 2020年 1月15日 |
224 件中 211-224 件を表示
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6636472 6636499 6637055 6637103 6637407 6637612 6638029 6633737 6633986 6629190 6629299 6629442 6629832 6630649
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