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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第191位 225件
（
2019年：第177位 270件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第127位 223件
（2019年：第110位 254件）
（ランキング更新日：2024年11月28日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6710259 | スポットアレイ基板、その製造方法、核酸ポリマー解析方法及び装置 | 2020年 6月17日 | |
| 特許 6710269 | 観察方法 | 2020年 6月17日 | |
| 特許 6710270 | イオンミリング装置、及びイオンミリング方法 | 2020年 6月17日 | |
| 特許 6710535 | 自動分析装置 | 2020年 6月17日 | |
| 特許 6710558 | 検体搬送システムおよび検体検査システム | 2020年 6月17日 | |
| 特許 6708358 | プラズマ処理装置及び試料の離脱方法 | 2020年 6月10日 | |
| 特許 6708798 | プラズマ処理装置及びそれを用いた被処理試料の処理方法 | 2020年 6月10日 | |
| 特許 6703508 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2020年 6月 3日 | |
| 特許 6705023 | プラズマ処理方法、及びプラズマ処理装置 | 2020年 6月 3日 | |
| 特許 6705946 | 荷電粒子線装置 | 2020年 6月 3日 | |
| 特許 6698665 | 自動分析装置 | 2020年 5月27日 | |
| 特許 6698867 | 荷電粒子線装置および試料観察方法 | 2020年 5月27日 | |
| 特許 6698883 | 荷電粒子線装置 | 2020年 5月27日 | |
| 特許 6700645 | 自動分析装置 | 2020年 5月27日 | |
| 特許 6694868 | 自動分析装置 | 2020年 5月20日 |
224 件中 121-135 件を表示
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6710259 6710269 6710270 6710535 6710558 6708358 6708798 6703508 6705023 6705946 6698665 6698867 6698883 6700645 6694868
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