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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第191位 225件
（
2019年：第177位 270件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第127位 223件
（2019年：第110位 254件）
（ランキング更新日：2024年11月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6647288 | 自動分析装置及び方法 | 2020年 2月14日 | |
| 特許 6647905 | 真空処理装置 | 2020年 2月14日 | |
| 特許 6648208 | プラズマ処理装置および大気開放方法 | 2020年 2月14日 | |
| 特許 6648236 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2020年 2月14日 | |
| 特許 6643202 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理データを解析する解析方法 | 2020年 2月12日 | |
| 特許 6643212 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2020年 2月12日 | |
| 特許 6640057 | 電子顕微鏡装置及びそれを用いた傾斜ホールの測定方法 | 2020年 2月 5日 | |
| 特許 6640259 | 細胞分散装置およびそれを用いた自動継代培養システム | 2020年 2月 5日 | |
| 特許 6640867 | イオン分析装置 | 2020年 2月 5日 | |
| 特許 6640975 | 静電チャック機構、及び荷電粒子線装置 | 2020年 2月 5日 | |
| 特許 6641212 | 検体容器搬送装置および検体容器ホルダ | 2020年 2月 5日 | |
| 特許 6641352 | 自動分析装置 | 2020年 2月 5日 | |
| 特許 6635661 | 自動分析装置及び試料希釈攪拌方法 | 2020年 1月29日 | |
| 特許 6636047 | 自動分析装置及びその制御方法 | 2020年 1月29日 | |
| 特許 6636109 | 検査装置 | 2020年 1月29日 |
224 件中 196-210 件を表示
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6647288 6647905 6648208 6648236 6643202 6643212 6640057 6640259 6640867 6640975 6641212 6641352 6635661 6636047 6636109
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12月4日(水) - 東京 千代田区
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12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
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