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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第191位 225件
（
2019年：第177位 270件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第127位 223件
（2019年：第110位 254件）
（ランキング更新日：2025年2月18日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6788680 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2020年11月25日 | |
| 特許 6788745 | 自動分析装置 | 2020年11月25日 | |
| 特許 6789036 | 自動分析装置および検査室情報システム | 2020年11月25日 | |
| 特許 6789889 | 試料処理装置 | 2020年11月25日 | |
| 特許 6790282 | 荷電粒子顕微鏡装置および広視野画像生成方法 | 2020年11月25日 | |
| 特許 6792098 | 真空処理装置の運転方法 | 2020年11月25日 | |
| 特許 6792616 | スフェロイド内部の細胞状態の解析方法 | 2020年11月25日 | |
| 特許 6783951 | 自動分析装置 | 2020年11月18日 | |
| 特許 6785377 | プラズマ処理装置 | 2020年11月18日 | |
| 特許 6785989 | 自動分析装置 | 2020年11月18日 | |
| 特許 6782264 | 自動分析装置 | 2020年11月11日 | |
| 特許 6782720 | 自動分析装置、自動分析システム、および分析方法 | 2020年11月11日 | |
| 特許 6782795 | 走査電子顕微鏡および走査電子顕微鏡による試料観察方法 | 2020年11月11日 | |
| 特許 6782849 | 分光測定装置 | 2020年11月11日 | |
| 特許 6783071 | 荷電粒子線装置 | 2020年11月11日 |
224 件中 16-30 件を表示
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6788680 6788745 6789036 6789889 6790282 6792098 6792616 6783951 6785377 6785989 6782264 6782720 6782795 6782849 6783071
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