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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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 ■ 2020年 出願公開件数ランキング    第258位 138件 (下降2019年:第232位 164件)

 ■ 2020年 特許取得件数ランキング    第127位 223件 (下降2019年:第110位 254件)

(ランキング更新日:2026年10月30日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6792098 真空処理装置の運転方法 2020年11月25日
特許 6790282 荷電粒子顕微鏡装置および広視野画像生成方法 2020年11月25日
特許 6789889 試料処理装置 2020年11月25日
特許 6789036 自動分析装置および検査室情報システム 2020年11月25日
特許 6788745 自動分析装置 2020年11月25日
特許 6788680 プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 2020年11月25日
特許 6788660 欠陥検査装置 2020年11月25日
特許 6785989 自動分析装置 2020年11月18日
特許 6785377 プラズマ処理装置 2020年11月18日
特許 6783951 自動分析装置 2020年11月18日
特許 6783704 陰イオン選択性電極及びその製造方法 2020年11月11日
特許 6782264 自動分析装置 2020年11月11日
特許 6782720 自動分析装置、自動分析システム、および分析方法 2020年11月11日
特許 6782795 走査電子顕微鏡および走査電子顕微鏡による試料観察方法 2020年11月11日
特許 6783071 荷電粒子線装置 2020年11月11日

224 件中 16-30 件を表示

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6792098 6790282 6789889 6789036 6788745 6788680 6788660 6785989 6785377 6783951 6783704 6782264 6782720 6782795 6783071

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