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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第191位 225件
（
2019年：第177位 270件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第127位 223件
（2019年：第110位 254件）
（ランキング更新日：2025年9月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6783674 | 自動分析装置、自動分析装置における廃液方法、及び、三方電磁弁 | 2020年11月11日 | |
| 特許 6783704 | 陰イオン選択性電極及びその製造方法 | 2020年11月11日 | |
| 特許 6778822 | プラズマ処理方法 | 2020年11月 4日 | |
| 特許 6775003 | 荷電粒子線装置 | 2020年10月28日 | |
| 特許 6775573 | 検体搬送システム | 2020年10月28日 | |
| 特許 6777728 | 検体搬送システムおよび検体搬送方法 | 2020年10月28日 | |
| 特許 6777746 | 電子顕微鏡 | 2020年10月28日 | |
| 特許 6777821 | 収差補正装置及び荷電粒子線装置 | 2020年10月28日 | |
| 特許 6771021 | 自動分析装置 | 2020年10月21日 | |
| 特許 6772117 | エッチング方法およびエッチング装置 | 2020年10月21日 | |
| 特許 6774141 | 検体情報提供方法 | 2020年10月21日 | |
| 特許 6774150 | 自動分析装置 | 2020年10月21日 | |
| 特許 6774151 | 自動分析装置 | 2020年10月21日 | |
| 特許 6768163 | 自動分析装置 | 2020年10月14日 | |
| 特許 6770645 | 荷電粒子線装置及び試料の厚さ測定法 | 2020年10月14日 |
224 件中 31-45 件を表示
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6783674 6783704 6778822 6775003 6775573 6777728 6777746 6777821 6771021 6772117 6774141 6774150 6774151 6768163 6770645
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