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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第191位 225件
（
2019年：第177位 270件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第127位 223件
（2019年：第110位 254件）
（ランキング更新日：2025年12月5日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6742065 | 自動分析装置および洗浄方法 | 2020年 8月19日 | |
| 特許 6742396 | 自動分析装置 | 2020年 8月19日 | |
| 特許 6742463 | 自動分析装置およびメンテナンスの要否を推奨する方法 | 2020年 8月19日 | |
| 特許 6742527 | 遠赤外分光装置、および遠赤外分光方法 | 2020年 8月19日 | |
| 特許 6742963 | 自動分析装置および画像処理方法 | 2020年 8月19日 | |
| 特許 6737529 | 自動分析装置 | 2020年 8月12日 | |
| 特許 6737539 | 荷電粒子線装置 | 2020年 8月12日 | |
| 特許 6738254 | 欠陥検出装置及び欠陥観察装置 | 2020年 8月12日 | |
| 特許 6738717 | 分析処理システム及び分析処理方法 | 2020年 8月12日 | |
| 特許 6739207 | 荷電粒子線装置 | 2020年 8月12日 | |
| 特許 6739553 | 荷電粒子線装置 | 2020年 8月12日 | |
| 特許 6740443 | 分析システム及び分析方法 | 2020年 8月12日 | |
| 特許 6740448 | 荷電粒子線装置 | 2020年 8月12日 | |
| 特許 6733988 | 自動分析装置 | 2020年 8月 5日 | |
| 特許 6734973 | プラズマ処理方法 | 2020年 8月 5日 |
224 件中 76-90 件を表示
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6742065 6742396 6742463 6742527 6742963 6737529 6737539 6738254 6738717 6739207 6739553 6740443 6740448 6733988 6734973
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