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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第273位 126件
（
2023年：第263位 136件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第83位 368件
（
2023年：第87位 361件）
（ランキング更新日：2025年11月19日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7471513 | 診断装置、半導体製造装置システム、半導体装置製造システムおよび診断方法 | 2024年 4月19日 | |
| 特許 7469997 | 半導体処理装置 | 2024年 4月17日 | |
| 特許 7470102 | 質量分析システム、および質量分析装置の性能を判定する方法 | 2024年 4月17日 | |
| 特許 7469556 | 分析装置、検体作製装置、検査装置、検体作製装置の動作方法、検査装置の動作方法 | 2024年 4月16日 | |
| 特許 7466439 | イオン源、質量分析計及びキャピラリーの挿入方法 | 2024年 4月12日 | |
| 特許 7465727 | 検体搬送装置 | 2024年 4月11日 | |
| 特許 7465993 | 自動分析装置 | 2024年 4月11日 | |
| 特許 7466008 | 電池診断装置、電池診断方法、電池診断プログラム | 2024年 4月11日 | |
| 特許 7466036 | 電気特性を導出するシステム及び非一時的コンピューター可読媒体 | 2024年 4月11日 | |
| 特許 7464471 | 基板搬送装置 | 2024年 4月 9日 | |
| 特許 7461935 | 薬剤感受性の検査方法 | 2024年 4月 4日 | |
| 特許 7461963 | 自動分析装置および試薬の分注方法 | 2024年 4月 4日 | |
| 特許 7462075 | 質量分析装置の制御方法 | 2024年 4月 4日 | |
| 特許 7460752 | 自動分析装置 | 2024年 4月 2日 | |
| 特許 7460769 | 分析装置及び認証方法 | 2024年 4月 2日 |
371 件中 256-270 件を表示
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7471513 7469997 7470102 7469556 7466439 7465727 7465993 7466008 7466036 7464471 7461935 7461963 7462075 7460752 7460769
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【大阪会場】 前田知財塾 ～スキルアップ編～ 知財の仕事を、もっと深く、もっと面白く！ 第1回 「発明発掘・権利化業務」
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