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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第273位 126件
（
2023年：第263位 136件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第83位 368件
（
2023年：第87位 361件）
（ランキング更新日：2025年1月10日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7496932 | 診断装置、半導体製造装置システム、半導体装置製造システムおよび診断方法 | 2024年 6月 7日 | |
| 特許 7496439 | 自動分析装置、位置調整用治具及び位置調整方法 | 2024年 6月 6日 | |
| 特許 7495867 | 自動分析装置 | 2024年 6月 5日 | |
| 特許 7495999 | キャピラリアレイ | 2024年 6月 5日 | |
| 特許 7494374 | 自動分析装置および自動分析装置の制御方法 | 2024年 6月 3日 | |
| 特許 7494375 | 自動分析装置、および自動分析装置における検体の吸引方法 | 2024年 6月 3日 | |
| 特許 7494386 | 荷電粒子線装置 | 2024年 6月 3日 | |
| 特許 7493390 | 監視システム | 2024年 5月31日 | |
| 特許 7493668 | 容器ホルダ、分析装置、容器ホルダの製造方法 | 2024年 5月31日 | |
| 特許 7493047 | 検査システム | 2024年 5月30日 | |
| 特許 7493101 | 透過型電子顕微鏡 | 2024年 5月30日 | |
| 特許 7492540 | 電解質分析装置 | 2024年 5月29日 | |
| 特許 7492629 | 電気特性を導出するシステム及び非一時的コンピューター可読媒体 | 2024年 5月29日 | |
| 特許 7492646 | 自動分析装置の制御方法 | 2024年 5月29日 | |
| 特許 7491747 | 凹面回折格子の製造方法 | 2024年 5月28日 |
371 件中 211-225 件を表示
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7496932 7496439 7495867 7495999 7494374 7494375 7494386 7493390 7493668 7493047 7493101 7492540 7492629 7492646 7491747
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