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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2026年 出願公開件数ランキング 第228位 128件
（
2025年：第204位 168件）
■ 2026年 特許取得件数ランキング 第60位 337件
（
2025年：第80位 319件）
（ランキング更新日：2026年10月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7876059 | ウエハ処理装置 | 2026年 6月18日 | |
| 特許 7876000 | イオンビームの調整方法、及びイオンビーム装置 | 2026年 6月18日 | |
| 特許 7875727 | 生体試料測定装置 | 2026年 6月18日 | |
| 特許 7875701 | 電解質分析装置 | 2026年 6月18日 | |
| 特許 7875389 | エッチング方法 | 2026年 6月17日 | |
| 特許 7875315 | 質量分析装置および質量分析装置のプレロッドとメインロッドとの組立方法 | 2026年 6月17日 | |
| 特許 7874579 | 線量分布計算システム、プログラム及び線量分布計算方法 | 2026年 6月16日 | |
| 特許 7874129 | 評価方法、探索方法、および探索システム | 2026年 6月15日 | |
| 特許 7874238 | 半導体デバイス製造システム、サーバおよび異物発生要因特定方法 | 2026年 6月15日 | |
| 特許 7872896 | サンプル溶液分離デバイス、サンプル溶液分離システム、及びサンプル溶液分離方法 | 2026年 6月10日 | |
| 特許 7872891 | イオンミリング装置 | 2026年 6月10日 | |
| 特許 7872375 | 自動分析装置 | 2026年 6月 9日 | |
| 特許 7872445 | 荷電粒子線装置 | 2026年 6月 9日 | |
| 特許 7871486 | 荷電粒子線装置 | 2026年 6月 8日 | |
| 特許 7871447 | 試薬保冷庫の乾燥方法 | 2026年 6月 8日 |
340 件中 151-165 件を表示
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7876059 7876000 7875727 7875701 7875389 7875315 7874579 7874129 7874238 7872896 7872891 7872375 7872445 7871486 7871447
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