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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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（
2024年：第273位 126件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第75位 292件
（2024年：第83位 368件）
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7627776 | 液体クロマトグラフ質量分析装置の制御方法 | 2025年 2月 6日 | |
| 特許 7627791 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置におけるビームの偏向方法 | 2025年 2月 6日 | |
| 特許 7625716 | エッチング方法 | 2025年 2月 3日 | |
| 特許 7625080 | 病理検査向けコントロールスライドガラス及びその製造方法 | 2025年 1月31日 | |
| 特許 7625133 | 異常検出装置及び異常検出方法 | 2025年 1月31日 | |
| 特許 7624355 | 試料観察装置および方法 | 2025年 1月30日 | |
| 特許 7624374 | ステージ装置及びステージ装置を備える荷電粒子線装置 | 2025年 1月30日 | |
| 特許 7623495 | 自動分析装置 | 2025年 1月28日 | |
| 特許 7620777 | 電池状態推定装置、電力システム | 2025年 1月24日 | |
| 特許 7620699 | 液体クロマトグラフ及び液体クロマトグラフの制御方法 | 2025年 1月23日 | |
| 特許 7620769 | プラズマ処理装置 | 2025年 1月23日 | |
| 特許 7620096 | ステージ装置、荷電粒子線装置および真空装置 | 2025年 1月22日 | |
| 特許 7617811 | 機械学習システム | 2025年 1月20日 | |
| 特許 7614058 | 欠陥検査システム及び欠陥検査方法 | 2025年 1月15日 | |
| 特許 7614311 | 半導体装置製造システムおよび装置診断方法 | 2025年 1月15日 |
294 件中 256-270 件を表示
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7627776 7627791 7625716 7625080 7625133 7624355 7624374 7623495 7620777 7620699 7620769 7620096 7617811 7614058 7614311
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