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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2026年 出願公開件数ランキング 第228位 128件
（
2025年：第204位 168件）
■ 2026年 特許取得件数ランキング 第60位 337件
（
2025年：第80位 319件）
（ランキング更新日：2026年10月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7846259 | 半導体デバイス製造システム、サーバー及び半導体デバイス製造方法 | 2026年 4月14日 | |
| 特許 7844378 | 品質管理装置、品質管理システム、品質管理プログラムおよび品質管理方法 | 2026年 4月13日 | |
| 特許 7843676 | 照射位置確認支援装置、照射位置確認支援方法、および照射位置確認支援プログラム | 2026年 4月10日 | |
| 特許 7843853 | 容器保管装置 | 2026年 4月10日 | |
| 特許 7843856 | 自動分析装置及び自動分析システム | 2026年 4月10日 | |
| 特許 7843943 | 計測装置、計測データ利活用システム及び計測データ取得方法 | 2026年 4月10日 | |
| 特許 7843129 | 検体検査装置 | 2026年 4月 9日 | |
| 特許 7842906 | 荷電粒子ビーム装置 | 2026年 4月 8日 | |
| 特許 7842907 | 搬送方法、搬送装置および解析システム | 2026年 4月 8日 | |
| 特許 7842008 | 検体容器仕分け装置 | 2026年 4月 7日 | |
| 特許 7842133 | データ解析方法、データ解析システム、および計算機 | 2026年 4月 7日 | |
| 特許 7840203 | ステージ装置、荷電粒子線装置、及び光学式検査装置 | 2026年 4月 3日 | |
| 特許 7840223 | 真空処理装置の運転方法 | 2026年 4月 3日 | |
| 特許 7840249 | 超音波洗浄機及びこれを用いた自動分析装置 | 2026年 4月 3日 | |
| 特許 7840357 | 分析装置のカラムオーブン | 2026年 4月 3日 |
340 件中 226-240 件を表示
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7846259 7844378 7843676 7843853 7843856 7843943 7843129 7842906 7842907 7842008 7842133 7840203 7840223 7840249 7840357
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