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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第221位 141件
（
2024年：第273位 126件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第75位 292件
（2024年：第83位 368件）
（ランキング更新日：2025年11月14日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7765353 | 加速器及び粒子線治療装置 | 2025年11月 6日 | |
| 特許 7765651 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2025年11月 6日 | |
| 特許 7763739 | 距離計測方法、距離計測装置、並びに距離計測システム | 2025年11月 4日 | |
| 特許 7763978 | エッチング方法 | 2025年11月 4日 | |
| 特許 7763352 | 試料表面品質管理装置 | 2025年10月31日 | |
| 特許 7762593 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2025年10月30日 | |
| 特許 7761202 | 監視システム | 2025年10月28日 | |
| 特許 7761728 | プラズマ処理装置 | 2025年10月28日 | |
| 特許 7761751 | 分注装置及び自動分析装置 | 2025年10月28日 | |
| 特許 7761763 | 荷電粒子ビームシステム、および試料評価情報生成方法 | 2025年10月28日 | |
| 特許 7760675 | 自動分析システム | 2025年10月27日 | |
| 特許 7760750 | 解析システムおよび粒子の解析方法 | 2025年10月27日 | |
| 特許 7760038 | 自動分析装置 | 2025年10月24日 | |
| 特許 7760044 | 荷電粒子線装置の調整方法及び荷電粒子線装置 | 2025年10月24日 | |
| 特許 7757540 | イオンミリング装置及びそれを用いた加工方法 | 2025年10月21日 |
294 件中 16-30 件を表示
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7765353 7765651 7763739 7763978 7763352 7762593 7761202 7761728 7761751 7761763 7760675 7760750 7760038 7760044 7757540
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