特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社日立ハイテクノロジーズ

※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2026年出願公開件数ランキング　　　第228位　125件（2025年：第204位　168件）

　■　2026年特許取得件数ランキング　　　第59位　328件（2025年：第80位　319件）

（ランキング更新日：2026年10月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7926464	放射線撮像装置及び撮像条件算出方法	2026年 9月29日
特許 7926412	加速器用電磁石、加速器、及び粒子線治療システム	2026年 9月29日
特許 7926075	学習モデル適合領域検知装置、学習モデル適合領域検知方法、並びに学習モデル運用方法	2026年 9月28日
特許 7926065	イオンミリング装置	2026年 9月28日
特許 7925986	荷電粒子線装置及び試料の特性を推定する方法	2026年 9月28日
特許 7925826	イオン源、これを備えた質量分析装置およびイオンの生成方法	2026年 9月28日
特許 7925157	情報処理装置、及び不正アクセス検知方法	2026年 9月25日
特許 7924494	プラズマ処理方法	2026年 9月24日
特許 7924469	荷電粒子ビーム装置	2026年 9月24日
特許 7924443	診断装置、半導体製造装置システム、半導体装置製造システムおよび診断方法	2026年 9月24日
特許 7924407	自動分析装置及び把持装置	2026年 9月24日
特許 7923842	探索方法、探索装置、コンピュータ、半導体デバイス製造システム、検索方法および分析方法	2026年 9月18日
特許 7923729	パラメータ確認装置、治療計画検証装置、治療計画装置及び放射線治療システム、並びにプログラム、パラメータ確認方法	2026年 9月18日
特許 7923330	自動分析装置	2026年 9月17日
特許 7923122	加速器及び粒子線治療システム	2026年 9月17日

331 件中 31-45 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

7926464 7926412 7926075 7926065 7925986 7925826 7925157 7924494 7924469 7924443 7924407 7923842 7923729 7923330 7923122

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数