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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第771位 39件
（
2014年：第986位 28件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第907位 23件
（2014年：第1008位 28件）
（ランキング更新日：2025年12月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5695818 | 断面加工方法及び断面観察試料の製造方法 | 2015年 4月 8日 | |
| 特許 5695959 | 単結晶ダイヤモンド切削刃具の製造方法 | 2015年 4月 8日 | |
| 特許 5684612 | Ｘ線分析装置 | 2015年 3月18日 | |
| 特許 5679542 | 品質優先回路抽出装置、品質優先回路抽出方法、品質優先回路抽出プログラム、マスク作成システム、及びレイアウト制約作成システム | 2015年 3月 4日 | |
| 特許 5662041 | 走査型プローブ顕微鏡の走査をコンピュータに実行させるプログラム | 2015年 1月28日 | |
| 特許 5662123 | ＥＵＶマスク修正装置および方法 | 2015年 1月28日 | |
| 特許 5662219 | 試料の位置決め方法およびそれを用いた熱分析装置 | 2015年 1月28日 | |
| 特許 5656726 | Ｘ線タルボ干渉計用位相型回折格子の製造方法 | 2015年 1月21日 |
23 件中 16-23 件を表示
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5695818 5695959 5684612 5679542 5662041 5662123 5662219 5656726
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