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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4857101 | プローブ評価方法 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4855170 | 電子顕微鏡装置 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4855135 | 差動排気走査形電子顕微鏡 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4851960 | 異物検査方法、および異物検査装置 | 2012年 1月11日 | |
| 特許 4851804 | 集束イオンビーム加工観察装置、集束イオンビーム加工観察システム及び加工観察方法 | 2012年 1月11日 | |
| 特許 4850654 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置用試料保持装置 | 2012年 1月11日 | |
| 特許 4849881 | プラズマエッチング方法 | 2012年 1月11日 |
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4857101 4855170 4855135 4851960 4851804 4850654 4849881
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