日本電子株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第742位 45件
（
2012年：第544位 64件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第494位 71件
（2012年：第485位 70件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5373368 | 電子線を用いるＸ線分析装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5373463 | 透過型電子顕微鏡の自動最適合焦点調整装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5373329 | 荷電粒子ビーム描画装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5373297 | ２次電子・反射電子検出装置及び２次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5362423 | 試料検査方法及び試料検査装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5367628 | 荷電粒子線装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5351606 | 生化学自動分析装置 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5351634 | 電子線装置 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5341025 | 走査電子顕微鏡 | 2013年11月13日 | |
| 特許 5341016 | 飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置のキャリブレーション方法 | 2013年11月13日 | |
| 特許 5329368 | プローブ振動制御装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5329380 | モノクロメータのスリット位置制御方法及び装置並びに分析電子顕微鏡 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5324270 | 電子線装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5314603 | 飛行時間型質量分析装置 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5318364 | 試料保持体、試料検査装置及び試料検査方法、並びに試料保持体の製造方法 | 2013年10月16日 |
71 件中 1-15 件を表示
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5373368 5373463 5373329 5373297 5362423 5367628 5351606 5351634 5341025 5341016 5329368 5329380 5324270 5314603 5318364
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