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日本電子株式会社

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  2015年 出願公開件数ランキング    第493位 68件 上昇2014年:第737位 41件)

  2015年 特許取得件数ランキング    第799位 27件 下降2014年:第635位 50件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 5836002 荷電粒子ビーム描画方法及び装置 2015年12月24日
特許 5836134 オージェ電子分光法用試料作製方法 2015年12月24日
特許 5836171 透過型電子顕微鏡の調整方法 2015年12月24日
特許 5836195 臨床検査用分析装置および臨床検査用分析装置における洗浄方法 2015年12月24日
特許 5824262 試料観察方法および圧力測定用ホルダ 2015年11月25日
特許 5806873 荷電粒子ビーム装置 2015年11月10日
特許 5808041 位相板および透過電子顕微鏡 2015年11月10日
特許 5798393 透過電子顕微鏡システム 2015年10月21日
特許 5798424 荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置 2015年10月21日
特許 5780847 放射線検出装置および放射線分析装置 2015年 9月16日
特許 5780923 エネルギー分散型X線検出器 2015年 9月16日
特許 5769110 核磁気共鳴装置および磁場補正方法 2015年 8月26日
特許 5763992 透過型電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡のデフォーカス量調整方法、プログラム及び情報記憶媒体 2015年 8月12日
特許 5764010 画像生成装置、画像生成方法、およびプログラム 2015年 8月12日
特許 5764042 放射線分析装置及び放射線検出装置のリセット方法 2015年 8月12日

31 件中 1-15 件を表示

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5836002 5836134 5836171 5836195 5824262 5806873 5808041 5798393 5798424 5780847 5780923 5769110 5763992 5764010 5764042

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