日本電子株式会社
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第493位 68件
（
2014年：第737位 41件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第799位 27件
（
2014年：第635位 50件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5836002 | 荷電粒子ビーム描画方法及び装置 | 2015年12月24日 | |
| 特許 5836134 | オージェ電子分光法用試料作製方法 | 2015年12月24日 | |
| 特許 5836171 | 透過型電子顕微鏡の調整方法 | 2015年12月24日 | |
| 特許 5836195 | 臨床検査用分析装置および臨床検査用分析装置における洗浄方法 | 2015年12月24日 | |
| 特許 5824262 | 試料観察方法および圧力測定用ホルダ | 2015年11月25日 | |
| 特許 5806873 | 荷電粒子ビーム装置 | 2015年11月10日 | |
| 特許 5808041 | 位相板および透過電子顕微鏡 | 2015年11月10日 | |
| 特許 5798393 | 透過電子顕微鏡システム | 2015年10月21日 | |
| 特許 5798424 | 荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置 | 2015年10月21日 | |
| 特許 5780847 | 放射線検出装置および放射線分析装置 | 2015年 9月16日 | |
| 特許 5780923 | エネルギー分散型Ｘ線検出器 | 2015年 9月16日 | |
| 特許 5769110 | 核磁気共鳴装置および磁場補正方法 | 2015年 8月26日 | |
| 特許 5763992 | 透過型電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡のデフォーカス量調整方法、プログラム及び情報記憶媒体 | 2015年 8月12日 | |
| 特許 5764010 | 画像生成装置、画像生成方法、およびプログラム | 2015年 8月12日 | |
| 特許 5764042 | 放射線分析装置及び放射線検出装置のリセット方法 | 2015年 8月12日 |
31 件中 1-15 件を表示
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5836002 5836134 5836171 5836195 5824262 5806873 5808041 5798393 5798424 5780847 5780923 5769110 5763992 5764010 5764042
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