日本電子株式会社
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第446位 77件
（
2020年：第450位 75件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第250位 116件
（2020年：第420位 61件）
（ランキング更新日：2025年3月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6982031 | 蛍光Ｘ線測定装置 | 2021年12月17日 | |
| 特許 6976643 | 検体ラック搬送装置及び自動分析システム | 2021年12月 8日 | |
| 特許 6974986 | 電子顕微鏡観察用の包埋樹脂試料の作製方法およびそれに用いる型枠。 | 2021年12月 1日 | |
| 特許 6975022 | 検出装置 | 2021年12月 1日 | |
| 特許 6975203 | Ｘ線分析システム及びＸ線分析方法 | 2021年12月 1日 | |
| 特許 6962721 | 試料ホルダーおよび電子顕微鏡 | 2021年11月 5日 | |
| 特許 6962757 | 測定方法および電子顕微鏡 | 2021年11月 5日 | |
| 特許 6962825 | 高周波誘導熱プラズマ装置 | 2021年11月 5日 | |
| 特許 6962863 | 荷電粒子線装置 | 2021年11月 5日 | |
| 特許 6962897 | 電子顕微鏡および画像処理方法 | 2021年11月 5日 | |
| 特許 6962951 | 分析装置およびスペクトル生成方法 | 2021年11月 5日 | |
| 特許 6962979 | 暗視野像の取得方法 | 2021年11月 5日 | |
| 特許 6963076 | 分析装置および分析方法 | 2021年11月 5日 | |
| 特許 6954767 | ＮＭＲ測定装置及び磁場マップ演算方法 | 2021年10月27日 | |
| 特許 6954787 | ＮＭＲ測定装置 | 2021年10月27日 |
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6982031 6976643 6974986 6975022 6975203 6962721 6962757 6962825 6962863 6962897 6962951 6962979 6963076 6954767 6954787
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