日本電子株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第547位 66件
（
2010年：第406位 107件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第532位 60件
（
2010年：第555位 49件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4628230 | 荷電粒子線偏向装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4616687 | 透過電子顕微鏡試料位置検出方法 | 2011年 1月19日 | |
| 特許 4616612 | 反射電子線検出装置 | 2011年 1月19日 | 共同出願 |
| 特許 4616631 | 試料分析装置 | 2011年 1月19日 | |
| 特許 4616701 | 電子顕微鏡の試料ホルダ | 2011年 1月19日 | |
| 特許 4616759 | 原子間力顕微鏡及び原子間力顕微鏡を用いたエネルギー散逸像の形成方法 | 2011年 1月19日 | |
| 特許 4609992 | ＦＩＢ自動加工時のドリフト補正方法及び装置 | 2011年 1月12日 | 共同出願 |
| 特許 4607677 | 自動分析装置の容器搬送機構 | 2011年 1月 5日 | |
| 特許 4607623 | 電子ビーム描画方法及び装置 | 2011年 1月 5日 | |
| 特許 4607568 | 試料表面分析装置 | 2011年 1月 5日 | |
| 特許 4607754 | 微動装置及び走査形プローブ顕微鏡 | 2011年 1月 5日 | |
| 特許 4607558 | 荷電粒子光学装置及び収差補正方法 | 2011年 1月 5日 | |
| 特許 4607565 | 分析方法及び装置 | 2011年 1月 5日 | |
| 特許 4607624 | 走査型電子顕微鏡 | 2011年 1月 5日 | |
| 特許 4607651 | ＮＭＲ検出部およびＮＭＲ装置 | 2011年 1月 5日 |
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4628230 4616687 4616612 4616631 4616701 4616759 4609992 4607677 4607623 4607568 4607754 4607558 4607565 4607624 4607651
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