日本電子株式会社
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（
2023年：第390位 78件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7606931 | 試料加工装置および試料加工方法 | 2024年12月26日 | |
| 特許 7607013 | 荷電粒子光学系の調整方法および荷電粒子線装置 | 2024年12月26日 | |
| 特許 7607061 | 質量分析システム及びピーク評価方法 | 2024年12月26日 | |
| 特許 7593885 | 試料加工装置および試料加工方法 | 2024年12月 3日 | |
| 特許 7593893 | 試料加工装置およびシールド | 2024年12月 3日 | |
| 特許 7593895 | 電子顕微鏡及び検出ユニット | 2024年12月 3日 | |
| 特許 7593899 | 走査電子顕微鏡 | 2024年12月 3日 | |
| 特許 7594076 | 自動分析装置及びプログラム | 2024年12月 3日 | |
| 特許 7586779 | 試料観察方法およびカートリッジ | 2024年11月19日 | |
| 特許 7586856 | 電子分光装置および分析方法 | 2024年11月19日 | |
| 特許 7586866 | 集束イオンビーム装置 | 2024年11月19日 | |
| 特許 7586978 | 電子顕微鏡および試料の方位合わせ方法 | 2024年11月19日 | |
| 特許 7583002 | 試料加工装置、遮蔽板、および試料加工方法 | 2024年11月13日 | |
| 特許 7583008 | ＭＡＳ装置 | 2024年11月13日 | |
| 特許 7583011 | 衝突判定装置、プログラム及び衝突判定方法 | 2024年11月13日 |
92 件中 1-15 件を表示
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7606931 7607013 7607061 7593885 7593893 7593895 7593899 7594076 7586779 7586856 7586866 7586978 7583002 7583008 7583011
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