日本電子株式会社
※ ログインすれば出願人(日本電子株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2024年 出願公開件数ランキング 第586位 48件
（
2023年：第463位 68件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第327位 91件
（
2023年：第390位 78件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2025年
日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7606931 | 試料加工装置および試料加工方法 | 2024年12月26日 | |
| 特許 7607013 | 荷電粒子光学系の調整方法および荷電粒子線装置 | 2024年12月26日 | |
| 特許 7607061 | 質量分析システム及びピーク評価方法 | 2024年12月26日 | |
| 特許 7593885 | 試料加工装置および試料加工方法 | 2024年12月 3日 | |
| 特許 7593893 | 試料加工装置およびシールド | 2024年12月 3日 | |
| 特許 7593895 | 電子顕微鏡及び検出ユニット | 2024年12月 3日 | |
| 特許 7593899 | 走査電子顕微鏡 | 2024年12月 3日 | |
| 特許 7594076 | 自動分析装置及びプログラム | 2024年12月 3日 | |
| 特許 7586779 | 試料観察方法およびカートリッジ | 2024年11月19日 | |
| 特許 7586856 | 電子分光装置および分析方法 | 2024年11月19日 | |
| 特許 7586866 | 集束イオンビーム装置 | 2024年11月19日 | |
| 特許 7586978 | 電子顕微鏡および試料の方位合わせ方法 | 2024年11月19日 | |
| 特許 7583002 | 試料加工装置、遮蔽板、および試料加工方法 | 2024年11月13日 | |
| 特許 7583008 | ＭＡＳ装置 | 2024年11月13日 | |
| 特許 7583011 | 衝突判定装置、プログラム及び衝突判定方法 | 2024年11月13日 |
92 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
7606931 7607013 7607061 7593885 7593893 7593895 7593899 7594076 7586779 7586856 7586866 7586978 7583002 7583008 7583011
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。日本電子株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
9月1日(月) - 千葉 千葉市美浜区中瀬1丁目3番地
9月1日(月) - 東京 港区
特許庁：AI／DX時代に即した産業財産権制度について ～有識者委員会での議論を踏まえた、特許・意匠制度の見直しの方向性～
9月1日(月) -
9月2日(火) -
9月2日(火) -
9月2日(火) - 東京 港区
9月3日(水) -
9月3日(水) -
9月4日(木) - 大阪 大阪市
9月4日(木) -
9月4日(木) - 大阪 大阪市
9月5日(金) -
9月5日(金) -
9月6日(土) -
9月1日(月) - 千葉 千葉市美浜区中瀬1丁目3番地
9月10日(水) - 東京 港区
9月10日(水) -
9月11日(木) - 東京 江東区
9月11日(木) - 広島 広島
ますます頼りにされる商標担当者になるための３つのポイント ～ 社内の商標相談にサクサクと答えられるエッセンスを教えます ～
9月12日(金) -
9月12日(金) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒060-0002 札幌市中央区北2条西3丁目1番地太陽生命札幌ビル7階 特許・実用新案 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング
名古屋本部オフィス 〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅3-13-24 第一はせ川ビル6F http://aigipat.com/ 岐阜オフィス 〒509-0124 岐阜県各務原市鵜沼山崎町3丁目146番地1 PACビル2階（旧横山ビル） http://gifu.aigipat.com/ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒１６６－０００３ 東京都杉並区高円寺南２－５０－２ ＹＳビル３Ｆ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
