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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第60位 712件
(2012年:第53位 714件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第45位 796件
(2012年:第37位 902件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
再表 2011-40328 | 表面波プラズマ発生用アンテナ、マイクロ波導入機構、および表面波プラズマ処理装置 | 2013年 2月28日 | |
特開 2013-42145 | プラズマ処理装置 | 2013年 2月28日 | |
特開 2013-42144 | 載置台構造及び熱処理装置 | 2013年 2月28日 | |
特開 2013-42012 | 半導体製造装置及び処理方法 | 2013年 2月28日 | |
特開 2013-41896 | 半導体装置の製造方法及び半導体装置 | 2013年 2月28日 | |
特開 2013-41879 | 成膜方法、これを含む半導体装置の製造方法、成膜装置、及び半導体装置 | 2013年 2月28日 | |
特開 2013-41872 | プラズマ処理装置 | 2013年 2月28日 | |
特表 2013-506986 | 半導体デバイス、半導体デバイスの製造方法および半導体デバイスの製造装置 | 2013年 2月28日 | |
特表 2013-506313 | 基板上のシリコン含有反射防止コーティング層の再加工方法 | 2013年 2月21日 | 共同出願 |
特開 2013-38126 | 基板処理装置、基板処理方法および記憶媒体 | 2013年 2月21日 | |
特開 2013-38128 | 熱処理装置 | 2013年 2月21日 | |
特開 2013-37627 | 温度制御方法、その温度制御方法を実行させるためのプログラムを記録した記録媒体、温度制御システム及び熱処理装置 | 2013年 2月21日 | |
特開 2013-38423 | パターン欠陥を低減するための複数回化学的処理プロセス | 2013年 2月21日 | |
特開 2013-38261 | パーティクルモニタ方法、パーティクルモニタ装置 | 2013年 2月21日 | |
特開 2013-38194 | 有機トランジスタ及びその製造方法 | 2013年 2月21日 |
712 件中 586-600 件を表示
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2011-40328 2013-42145 2013-42144 2013-42012 2013-41896 2013-41879 2013-41872 2013-506986 2013-506313 2013-38126 2013-38128 2013-37627 2013-38423 2013-38261 2013-38194
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3月4日(火) - 東京 港区
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3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
3月10日(月) - 大阪 大阪市
3月11日(火) - 東京 港区
3月11日(火) - 大阪 大阪市
特許制度に詳しい方にこそ知って欲しい意匠権の使い方 ~コスパの高い意匠権を使って事業を守る方法を、特許権と比較して解説~
3月12日(水) - 東京 港区
3月12日(水) -
3月12日(水) - 愛知 名古屋市中区
3月12日(水) -
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3月13日(木) - 東京 港区
3月13日(木) -
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3月14日(金) -
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3月10日(月) - 大阪 大阪市
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