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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第62位 621件
(2010年:第57位 692件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第41位 739件
(2010年:第39位 580件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-222825 | 被処理体処理装置 | 2011年11月 4日 | |
特開 2011-222696 | 基板処理装置 | 2011年11月 4日 | |
特開 2011-222653 | 基板保持具、縦型熱処理装置および熱処理方法 | 2011年11月 4日 | |
特開 2011-222595 | 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体 | 2011年11月 4日 | |
特開 2011-222676 | 基板処理装置 | 2011年11月 4日 | |
特開 2011-221006 | ウェハ型温度検知センサおよびその製造方法 | 2011年11月 4日 | |
再表 2009-147871 | 流体加熱器、その製造方法、流体加熱器を備えた基板処理装置および基板処理方法 | 2011年10月27日 | |
特開 2011-215069 | プローブ | 2011年10月27日 | |
特開 2011-216617 | パターン形成方法 | 2011年10月27日 | |
特開 2011-216817 | マスクパターンの形成方法及び半導体装置の製造方法 | 2011年10月27日 | |
特開 2011-216862 | 成膜方法及び成膜装置 | 2011年10月27日 | |
特開 2011-216844 | 成膜装置、成膜方法、回転数の最適化方法及び記憶媒体 | 2011年10月27日 | |
特開 2011-216593 | プラズマ窒化処理方法 | 2011年10月27日 | |
特開 2011-216867 | 薄膜の形成方法 | 2011年10月27日 | |
特開 2011-216644 | プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置 | 2011年10月27日 |
621 件中 61-75 件を表示
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2011-222825 2011-222696 2011-222653 2011-222595 2011-222676 2011-221006 2009-147871 2011-215069 2011-216617 2011-216817 2011-216862 2011-216844 2011-216593 2011-216867 2011-216644
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2月10日(月) -
2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
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