株式会社アルバック
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第400位 88件
（
2014年：第254位 168件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第166位 188件
（
2014年：第185位 238件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アルバックの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5773360 | 流量測定装置 | 2015年 9月 2日 | |
| 特許 5773731 | 真空処理装置 | 2015年 9月 2日 | |
| 特許 5773734 | 基板事前検査方法 | 2015年 9月 2日 | |
| 特許 5773777 | ドライエッチング方法 | 2015年 9月 2日 | |
| 特許 5770498 | 回転駆動装置及び搬送装置 | 2015年 8月26日 | |
| 特許 5770541 | 温度補正を伴うバイオセンサーによる測定方法 | 2015年 8月26日 | |
| 特許 5770575 | 酸化皮膜の形成方法 | 2015年 8月26日 | |
| 特許 5771372 | プラズマ処理装置及び前処理方法 | 2015年 8月26日 | |
| 特許 5771444 | 分析装置 | 2015年 8月26日 | |
| 特許 5764350 | 真空処理装置 | 2015年 8月19日 | |
| 特許 5764409 | 薄膜リチウム二次電池製造装置及び薄膜リチウム二次電池製造方法 | 2015年 8月19日 | |
| 特許 5764467 | スパッタ装置、ターゲット装置 | 2015年 8月19日 | |
| 特許 5764721 | 成膜装置 | 2015年 8月19日 | |
| 特許 5765804 | 質量分析計用のイオン源及びこれを備えた質量分析計 | 2015年 8月19日 | |
| 特許 5765865 | 半導体発光素子及びフォトニック結晶周期構造のパラメータ計算方法 | 2015年 8月19日 |
192 件中 61-75 件を表示
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5773360 5773731 5773734 5773777 5770498 5770541 5770575 5771372 5771444 5764350 5764409 5764467 5764721 5765804 5765865
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