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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第1407位 17件
（
2015年：第1502位 15件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第731位 33件
（2015年：第1215位 16件）
（ランキング更新日：2026年10月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5968597 | サンプルを解析する方法及びそのための透過型電子顕微鏡 | 2016年 8月10日 | |
| 特許 5965978 | 荷電粒子ビームの波面を調査する方法 | 2016年 8月10日 | |
| 特許 5940621 | 荷電粒子レンズ系における収差を調査及び補正する方法 | 2016年 6月29日 | |
| 特許 5930735 | 低抵抗材料のビーム誘起堆積 | 2016年 6月 8日 | |
| 特許 5925182 | 撮像のための試料調製方法 | 2016年 5月25日 | |
| 特許 5919402 | プラズマ源 | 2016年 5月18日 | |
| 特許 5916318 | 透過型電子顕微鏡で用いられる検出器システム | 2016年 5月11日 | |
| 特許 5916276 | 基板上に微細構造を作製する方法 | 2016年 5月11日 | |
| 特許 5914578 | 凍結含水試料をマイクロプローブへ結合する方法 | 2016年 5月11日 | |
| 特許 5899041 | 粒子光学装置を用いて再構成された画像の決定方法 | 2016年 4月 6日 | |
| 特許 5899033 | 歪みのないＴＥＭの非点収差補正 | 2016年 4月 6日 | |
| 特許 5876859 | コーティングＯ−リング | 2016年 3月 2日 | |
| 特許 5876251 | 透過型電子顕微鏡用の検出器システム | 2016年 3月 2日 | |
| 特許 5873505 | 動的な多次元画像データの再構成 | 2016年 3月 1日 | |
| 特許 5855429 | 荷電粒子光学装置における試料キャリアの温度を測定する方法 | 2016年 2月 9日 |
33 件中 16-30 件を表示
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5968597 5965978 5940621 5930735 5925182 5919402 5916318 5916276 5914578 5899041 5899033 5876859 5876251 5873505 5855429
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