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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第1793位 14件
（
2016年：第1441位 17件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第1003位 21件
（2016年：第732位 33件）
（ランキング更新日：2025年9月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6116529 | ラマン分光機能を有する荷電粒子顕微鏡 | 2017年 4月19日 | |
| 特許 6110439 | 走査型透過荷電粒子顕微鏡の校正方法 | 2017年 4月 5日 | |
| 特許 6110519 | 顕微鏡サンプルからサンプル表面層を改変する方法 | 2017年 4月 5日 | |
| 特許 6099900 | 荷電粒子顕微鏡による可視化法 | 2017年 3月22日 | |
| 特許 6084799 | イメージセンサによるデータ取得方法 | 2017年 2月22日 | |
| 特許 6076682 | 収差補正器を備えたＳＴＥＭの調整方法 | 2017年 2月 8日 |
21 件中 16-21 件を表示
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6116529 6110439 6110519 6099900 6084799 6076682
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