ホーム > 特許ランキング > エフ・イ−・アイ・カンパニー > 2011年 > 特許一覧
エフ・イ−・アイ・カンパニー
※ ログインすれば出願人(エフ・イ−・アイ・カンパニー)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第1648位 14件
（
2010年：第1892位 13件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第2389位 8件
（2010年：第3422位 4件）
（ランキング更新日：2025年4月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
エフ・イ−・アイ・カンパニーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4810057 | 集束イオンビームと走査型電子顕微鏡との同軸鏡筒を備えた装置並びに像形成及び処理方法 | 2011年11月 9日 | |
| 特許 4789436 | 磁界レンズ | 2011年10月12日 | |
| 特許 4751017 | システムを制御する方法およびこの方法のステップを実行するための命令を含むコンピュータ可読媒体 | 2011年 8月17日 | |
| 特許 4743788 | 改善されたイオン・カラム動作のための成形スパッタ・シールド | 2011年 8月10日 | |
| 特許 4740422 | 荷電粒子検出器、集束イオンビーム・システム、イオン−電子変換器および正または負に荷電した粒子を検出する方法 | 2011年 8月 3日 | |
| 特許 4730875 | 近接堆積方法とそのシステム | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4728553 | 荷電粒子ビームシステムを用いてリソグラフィマスクを修正するための方法と装置 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4616938 | 環境走査電子顕微鏡および検出器 | 2011年 1月19日 |
8 件中 1-8 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4810057 4789436 4751017 4743788 4740422 4730875 4728553 4616938
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エフ・イ−・アイ・カンパニーの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
4月21日(月) -
4月22日(火) -
4月22日(火) -
4月22日(火) -
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月23日(水) - 東京 千代田区
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月24日(木) - 東京 港区
4月24日(木) -
4月24日(木) -
4月25日(金) -
4月21日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
岐阜県各務原市つつじが丘１丁目１１１番地 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 コンサルティング
福岡県福岡市中央区天神2-3-10-719 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒460-0003 愛知県名古屋市中区錦1-11-11 名古屋インターシティ16F 〒104-0061 東京都中央区銀座8-17-5 THE HUB 銀座OCT 407号室(東京支店) 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
