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エフ・イ−・アイ・カンパニー
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第34147位 0件
（
2020年：第33722位 0件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第3400位 4件
（2020年：第1945位 8件）
（ランキング更新日：2025年4月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ・イ−・アイ・カンパニーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6822783 | 有向ビーム信号分析を使用した粒子サイズの適応走査 | 2021年 1月27日 | |
| 特許 6817708 | 試料特有参照スペクトル・ライブラリ | 2021年 1月20日 | |
| 特許 6817743 | ＣＡＤ支援ＴＥＭ準備レシピ作製 | 2021年 1月20日 | |
| 特許 6812069 | 成形絞りによって形成された荷電粒子ビームを最適化する方法 | 2021年 1月13日 |
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6822783 6817708 6817743 6812069
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