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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第12951位 1件 (2018年:第3054位 6件)
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第1357位 13件 (2018年:第930位 22件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6618380 | 自動化されたS/TEM取得および測定のための既知の形状の薄片を使用したパターン・マッチング | 2019年12月11日 | |
特許 6598684 | 荷電粒子ビームを用いた傾斜ミリングまたは視射角ミリング操作用の基準マーク設計 | 2019年10月30日 | |
特許 6586261 | 大容量TEMグリッド及び試料取り付け方法 | 2019年10月 2日 | |
特許 6563166 | FIBおよび/または電子顕微鏡とともに使用するデュアル・レーザ・ビーム・システム | 2019年 8月21日 | |
特許 6556993 | 断面形成用途のプロセス自動化のためのパターン認識を伴う差分画像化 | 2019年 8月 7日 | |
特許 6552383 | 自動化されたTEM試料調製 | 2019年 7月31日 | |
特許 6522921 | 統合薄片抜取りステーション | 2019年 5月29日 | |
特許 6506780 | スライス・アンド・ビュー試料画像化のための方法および装置 | 2019年 4月24日 | |
特許 6506842 | マイクロトモグラフィにおける容器内で画像化された試料のビーム・ハードニング・アーチファクトの補正 | 2019年 4月24日 | |
特許 6498950 | プログラムされたマニピュレータを用いた表面除層 | 2019年 4月10日 | |
特許 6499498 | 高アスペクト比X線ターゲットおよびその使用 | 2019年 4月10日 | |
特許 6479303 | 適応走査を有する走査顕微鏡 | 2019年 3月 6日 | |
特許 6453580 | 試料調製中におけるTEM試料からのプローブの分離 | 2019年 1月16日 |
13 件中 1-13 件を表示
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6618380 6598684 6586261 6563166 6556993 6552383 6522921 6506780 6506842 6498950 6499498 6479303 6453580
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