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エフ・イ−・アイ・カンパニー

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エフ・イ−・アイ・カンパニーの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6618380	自動化されたＳ／ＴＥＭ取得および測定のための既知の形状の薄片を使用したパターン・マッチング	2019年12月11日
特許 6598684	荷電粒子ビームを用いた傾斜ミリングまたは視射角ミリング操作用の基準マーク設計	2019年10月30日
特許 6586261	大容量ＴＥＭグリッド及び試料取り付け方法	2019年10月 2日
特許 6563166	ＦＩＢおよび／または電子顕微鏡とともに使用するデュアル・レーザ・ビーム・システム	2019年 8月21日
特許 6556993	断面形成用途のプロセス自動化のためのパターン認識を伴う差分画像化	2019年 8月 7日
特許 6552383	自動化されたＴＥＭ試料調製	2019年 7月31日
特許 6522921	統合薄片抜取りステーション	2019年 5月29日
特許 6506780	スライス・アンド・ビュー試料画像化のための方法および装置	2019年 4月24日
特許 6506842	マイクロトモグラフィにおける容器内で画像化された試料のビーム・ハードニング・アーチファクトの補正	2019年 4月24日
特許 6498950	プログラムされたマニピュレータを用いた表面除層	2019年 4月10日
特許 6499498	高アスペクト比Ｘ線ターゲットおよびその使用	2019年 4月10日
特許 6479303	適応走査を有する走査顕微鏡	2019年 3月 6日
特許 6453580	試料調製中におけるＴＥＭ試料からのプローブの分離	2019年 1月16日

13 件中 1-13 件を表示

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6618380 6598684 6586261 6563166 6556993 6552383 6522921 6506780 6506842 6498950 6499498 6479303 6453580

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