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エフ・イ−・アイ・カンパニー

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  2019年 特許取得件数ランキング    第1357位 13件 下降2018年:第930位 22件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6618380 自動化されたS/TEM取得および測定のための既知の形状の薄片を使用したパターン・マッチング 2019年12月11日
特許 6598684 荷電粒子ビームを用いた傾斜ミリングまたは視射角ミリング操作用の基準マーク設計 2019年10月30日
特許 6586261 大容量TEMグリッド及び試料取り付け方法 2019年10月 2日
特許 6563166 FIBおよび/または電子顕微鏡とともに使用するデュアル・レーザ・ビーム・システム 2019年 8月21日
特許 6556993 断面形成用途のプロセス自動化のためのパターン認識を伴う差分画像化 2019年 8月 7日
特許 6552383 自動化されたTEM試料調製 2019年 7月31日
特許 6522921 統合薄片抜取りステーション 2019年 5月29日
特許 6506780 スライス・アンド・ビュー試料画像化のための方法および装置 2019年 4月24日
特許 6506842 マイクロトモグラフィにおける容器内で画像化された試料のビーム・ハードニング・アーチファクトの補正 2019年 4月24日
特許 6498950 プログラムされたマニピュレータを用いた表面除層 2019年 4月10日
特許 6499498 高アスペクト比X線ターゲットおよびその使用 2019年 4月10日
特許 6479303 適応走査を有する走査顕微鏡 2019年 3月 6日
特許 6453580 試料調製中におけるTEM試料からのプローブの分離 2019年 1月16日

13 件中 1-13 件を表示

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6618380 6598684 6586261 6563166 6556993 6552383 6522921 6506780 6506842 6498950 6499498 6479303 6453580

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