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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2022-97473	試験測定装置及び校正信号生成方法	2022年 6月30日
特開 2022-76479	高速入出力マージン試験のためのシステム、方法及び装置	2022年 5月19日
特開 2022-76480	測定装置における方法及び試験測定装置	2022年 5月19日
特開 2022-75648	試験測定装置、インスタンス設定方法及び試験測定装置の動作方法	2022年 5月18日
特表 2022-524715	高速入出力マージン試験のためのシステム、方法及び装置	2022年 5月10日
特表 2022-522958	ダイナミック・アプリケーション・ビルダーを使用した分離分散型測定分析システム	2022年 4月21日
特開 2022-54461	電流センサ及びその利用方法	2022年 4月 6日
特開 2022-51722	マージン・テスタ及びマージン試験方法	2022年 4月 1日
特表 2022-519763	複数の試験測定装置を同期させるシステム及び方法	2022年 3月24日
特開 2022-27736	分類システムとデータ・バーストの分類方法	2022年 2月14日
特開 2022-27744	ケーブル、試験測定システム及びケーブルの摩耗を示す方法	2022年 2月14日
特開 2022-27745	ケーブル、試験測定システム及び１つ以上の信号レーンを試験測定装置に接続する方法	2022年 2月14日
特表 2022-510644	試験測定装置データ収集及び交換システム	2022年 1月27日
特開 2022-16381	プローブ・チップ及びその固定方法	2022年 1月21日
特表 2022-509267	明示的及び暗黙的な手段に基づく取得データの分類	2022年 1月20日

32 件中 16-30 件を表示

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2022-97473 2022-76479 2022-76480 2022-75648 2022-524715 2022-522958 2022-54461 2022-51722 2022-519763 2022-27736 2022-27744 2022-27745 2022-510644 2022-16381 2022-509267

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