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■ 2026年 出願公開件数ランキング 第620位 38件
(
2025年:第861位 29件)
■ 2026年 特許取得件数ランキング 第534位 37件
(
2025年:第1160位 17件)
(ランキング更新日:2026年10月30日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7885023 | 膜厚測定装置及び膜厚測定方法 | 2026年 7月 6日 | |
| 特許 7875845 | 光学装置及び光学装置の制御方法 | 2026年 6月18日 | |
| 特許 7873705 | 検査装置及び検査方法 | 2026年 6月12日 | |
| 特許 7871326 | レンズ保持装置、レンズアセンブリ及びレンズ保持用弾性体部材の製造方法 | 2026年 6月 8日 | |
| 特許 7870310 | 制御装置、光源装置、制御方法及びプログラム | 2026年 6月 4日 | |
| 特許 7866533 | 検査装置及び検査方法 | 2026年 5月27日 | |
| 特許 7860936 | 検査方法及び検査装置 | 2026年 5月18日 | |
| 特許 7857111 | 画像処理装置、欠陥検出システム、画像処理方法、及び画像処理プログラム | 2026年 5月12日 | |
| 特許 7846811 | 欠陥検査装置 | 2026年 4月15日 | |
| 特許 7846716 | 計測装置及び計測方法 | 2026年 4月15日 | |
| 特許 7842642 | 光学定数決定装置及び光学定数決定方法 | 2026年 4月 8日 | |
| 特許 7841022 | 光学装置及び計測方法 | 2026年 4月 6日 | |
| 特許 7839836 | 光学装置及び光学装置の補正方法 | 2026年 4月 2日 | |
| 特許 7839815 | 光学装置及びフォーカス合わせ制御方法 | 2026年 4月 2日 | |
| 特許 7839831 | 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム | 2026年 4月 2日 |
38 件中 16-30 件を表示
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7885023 7875845 7873705 7871326 7870310 7866533 7860936 7857111 7846811 7846716 7842642 7841022 7839836 7839815 7839831
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