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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 5833631	光学検査システム中の１つ以上の検査パラメータの１つ以上の範囲を設定する方法	2015年12月16日
特許 5816282	環形光照明器、ビーム整形器及び照明方法	2015年11月18日
特許 5813692	オーバレイ測定用の目盛校正曲線を生成する方法	2015年11月17日
特許 5808347	プロセスツールの補正値を与える方法及びシステム	2015年11月10日
特許 5789353	半導体製造プロセスのための方法とシステム	2015年10月 7日
特許 5785571	試験体の測定または分析のためのシステム	2015年 9月30日
特許 5769729	過渡色中心形成の抑制及びフォノンポピュレーションの制御による光学材料におけるレーザー誘起損傷の軽減	2015年 8月26日
特許 5763712	検査データと組み合わせて設計データを使用するための方法及びシステム	2015年 8月12日
特許 5755304	動的に駆動されるステージミラー及びチャック組立体を備えるＺステージ	2015年 7月29日
特許 5745045	入力媒体及び出力媒体の区画内に電子デバイスを配置する方法及び装置	2015年 7月 8日
特許 5745899	試験体の測定のために構成されたシステム	2015年 7月 8日
特許 5722824	検出器と回路の飽和を避けることにより検査システムの熱破損を削減して、検出範囲を拡張するためのシステム、回路、方法	2015年 5月27日
特許 5718786	１つ又は複数の欠陥関連の機能を遂行するコンピュータ実行方法	2015年 5月13日
特許 5718849	ウエハの特性決定のための方法とシステム	2015年 5月13日
特許 5714645	不良検出システムの改良	2015年 5月 7日

20 件中 1-15 件を表示

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5833631 5816282 5813692 5808347 5789353 5785571 5769729 5763712 5755304 5745045 5745899 5722824 5718786 5718849 5714645

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