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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2015-537218	検出感度改善のための検査ビームの成形	2015年12月24日
特表 2015-536487	向上された非線形結晶性能のための共振キャビティ調整法	2015年12月21日
特表 2015-535927	固体照射光源及び検査システム	2015年12月17日
特表 2015-535938	最小ビームスポットの寸法および位置を決定するシステムおよび方法	2015年12月17日
特表 2015-536012	ホウ素層を有するシリコン基板を含むフォトカソード	2015年12月17日
特表 2015-535597	不偏ウェハの欠陥サンプル	2015年12月14日
特開 2015-222434	小型カタジオプトリック型対物系を用いた検査システム	2015年12月10日
特表 2015-534267	位置ずれ対象の不正確性を概算および補正するための方法	2015年11月26日
特表 2015-534289	混合モードのウェハ検査のための方法およびシステム	2015年11月26日
特表 2015-532733	埋設ＳＥＭ構造オーバーレイ標的を用いたＯＶＬのためのデバイス相関計測法（ＤＣＭ）	2015年11月12日
特表 2015-531966	水を含むレーザー維持プラズマ管球	2015年11月 5日
特表 2015-531976	ランプ動作温度の調整および制御による熱応力低減方法および装置	2015年11月 5日
特表 2015-531984	高ビーム電流および低ビーム電流の両方を用いた、高解像度イメージングのための二重レンズ銃電子ビーム装置および方法	2015年11月 5日
特表 2015-531056	複合型ｘ線および光学計測のためのモデル構築ならびに解析エンジン	2015年10月29日
特表 2015-529855	ＥＵＶマスク検査システムの光学系の波面収差計測	2015年10月 8日

73 件中 1-15 件を表示

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2015-537218 2015-536487 2015-535927 2015-535938 2015-536012 2015-535597 2015-222434 2015-534267 2015-534289 2015-532733 2015-531966 2015-531976 2015-531984 2015-531056 2015-529855

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