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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6801110	異方性誘電率を用いた半導体構造のモデル依拠光学計測	2020年12月16日
特許 6797125	高スループットワークインプロセスバッファ用のシステム及び方法	2020年12月 9日
特許 6793644	プラズマベース光源	2020年12月 2日
特許 6789295	偏光ターゲットおよび偏光照明を用いた回折光の振幅および位相の制御	2020年11月25日
特許 6789428	サンプルを検査する方法、センサ及びシステム	2020年11月25日
特許 6789920	被検査物上の関心対象領域の座標決定	2020年11月25日
特許 6790099	マルチビーム走査型顕微鏡システムの焦点調整方法及びシステム	2020年11月25日
特許 6790123	毛管凝縮を用いた半導体構造体の測定	2020年11月25日
特許 6790144	１９３ｎｍのレーザー検査システム	2020年11月25日
特許 6790248	高アスペクト比構造測定のための赤外分光反射計	2020年11月25日
特許 6785663	検査のための高解像度フルダイイメージデータの使用	2020年11月18日
特許 6785802	パターン化ウェハ幾何計測を用いたプロセス誘起非対称性の検出、定量及び制御	2020年11月18日
特許 6782834	広帯域光源を基にマルチチャネル可調照明を生成するシステム及び方法	2020年11月11日
特許 6783298	モデルベースのホットスポットモニタリング	2020年11月11日
特許 6779203	画像化計測ターゲットの品質推定および改善	2020年11月 4日

86 件中 1-15 件を表示

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6801110 6797125 6793644 6789295 6789428 6789920 6790099 6790123 6790144 6790248 6785663 6785802 6782834 6783298 6779203

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