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ケーエルエー−テンカー コーポレイション

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  2017年 出願公開件数ランキング    第422位 98件 上昇2016年:第444位 78件)

  2017年 特許取得件数ランキング    第472位 54件 上昇2016年:第483位 58件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6254673 選択 高品質で安定した出力ビーム、および長寿命高変換効率の非線形結晶を備えたレーザ 2017年12月27日
特許 6248187 選択 プラズマセル内の対流を制御するための方法及びシステム 2017年12月13日
特許 6242333 選択 検査前後の汚染回避のためのマスク、ウェーハおよび光学面の事前清浄および後清浄 2017年12月 6日
特許 6244307 選択 表面下欠陥検査用のサンプル作製のためのシステム及び方法 2017年12月 6日
特許 6238976 選択 レーザー結晶劣化補償 2017年11月29日
特許 6230622 選択 テンプレート画像マッチングを用いたウェーハ上の欠陥検出 2017年11月15日
特許 6231019 選択 高速画像化のための一体化されたマルチチャネルアナログフロントエンド及びデジタイザ 2017年11月15日
特許 6227711 選択 センサ・ウェーハ、及びセンサ・ウェーハを製造する方法 2017年11月 8日
特許 6223522 選択 表面計測ツールにおける改善された局部的特徴定量化のための方法及びシステム 2017年11月 1日
特許 6224599 選択 レーザー維持プラズマ光源向けプラズマ・セル 2017年11月 1日
特許 6220061 選択 自由形態の保護領域を使用するウエハ検査 2017年10月25日
特許 6215330 選択 位置ずれ対象の不正確性を概算および補正するための方法 2017年10月18日
特許 6211180 選択 安定性が向上されたCW DUVレーザー 2017年10月11日
特許 6188695 選択 表面高さ属性を用いて瑕疵を分類する方法および装置 2017年 8月30日
特許 6190363 選択 ウェハの欠陥検出 2017年 8月30日

54 件中 1-15 件を表示

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6254673 6248187 6242333 6244307 6238976 6230622 6231019 6227711 6223522 6224599 6220061 6215330 6211180 6188695 6190363

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