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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第422位 98件
(2016年:第444位 78件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第472位 54件
(2016年:第483位 58件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6254673 | 高品質で安定した出力ビーム、および長寿命高変換効率の非線形結晶を備えたレーザ | 2017年12月27日 | |
特許 6248187 | プラズマセル内の対流を制御するための方法及びシステム | 2017年12月13日 | |
特許 6242333 | 検査前後の汚染回避のためのマスク、ウェーハおよび光学面の事前清浄および後清浄 | 2017年12月 6日 | |
特許 6244307 | 表面下欠陥検査用のサンプル作製のためのシステム及び方法 | 2017年12月 6日 | |
特許 6238976 | レーザー結晶劣化補償 | 2017年11月29日 | |
特許 6230622 | テンプレート画像マッチングを用いたウェーハ上の欠陥検出 | 2017年11月15日 | |
特許 6231019 | 高速画像化のための一体化されたマルチチャネルアナログフロントエンド及びデジタイザ | 2017年11月15日 | |
特許 6227711 | センサ・ウェーハ、及びセンサ・ウェーハを製造する方法 | 2017年11月 8日 | |
特許 6223522 | 表面計測ツールにおける改善された局部的特徴定量化のための方法及びシステム | 2017年11月 1日 | |
特許 6224599 | レーザー維持プラズマ光源向けプラズマ・セル | 2017年11月 1日 | |
特許 6220061 | 自由形態の保護領域を使用するウエハ検査 | 2017年10月25日 | |
特許 6215330 | 位置ずれ対象の不正確性を概算および補正するための方法 | 2017年10月18日 | |
特許 6211180 | 安定性が向上されたCW DUVレーザー | 2017年10月11日 | |
特許 6188695 | 表面高さ属性を用いて瑕疵を分類する方法および装置 | 2017年 8月30日 | |
特許 6190363 | ウェハの欠陥検出 | 2017年 8月30日 |
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6254673 6248187 6242333 6244307 6238976 6230622 6231019 6227711 6223522 6224599 6220061 6215330 6211180 6188695 6190363
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