特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー　コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2017年出願公開件数ランキング　　　第422位　98件（2016年：第444位　78件）

　■　2017年特許取得件数ランキング　　　第472位　54件（2016年：第483位　58件）

（ランキング更新日：2025年10月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6254673	高品質で安定した出力ビーム、および長寿命高変換効率の非線形結晶を備えたレーザ	2017年12月27日
特許 6248187	プラズマセル内の対流を制御するための方法及びシステム	2017年12月13日
特許 6242333	検査前後の汚染回避のためのマスク、ウェーハおよび光学面の事前清浄および後清浄	2017年12月 6日
特許 6244307	表面下欠陥検査用のサンプル作製のためのシステム及び方法	2017年12月 6日
特許 6238976	レーザー結晶劣化補償	2017年11月29日
特許 6230622	テンプレート画像マッチングを用いたウェーハ上の欠陥検出	2017年11月15日
特許 6231019	高速画像化のための一体化されたマルチチャネルアナログフロントエンド及びデジタイザ	2017年11月15日
特許 6227711	センサ・ウェーハ、及びセンサ・ウェーハを製造する方法	2017年11月 8日
特許 6223522	表面計測ツールにおける改善された局部的特徴定量化のための方法及びシステム	2017年11月 1日
特許 6224599	レーザー維持プラズマ光源向けプラズマ・セル	2017年11月 1日
特許 6220061	自由形態の保護領域を使用するウエハ検査	2017年10月25日
特許 6215330	位置ずれ対象の不正確性を概算および補正するための方法	2017年10月18日
特許 6211180	安定性が向上されたＣＷ　ＤＵＶレーザー	2017年10月11日
特許 6188695	表面高さ属性を用いて瑕疵を分類する方法および装置	2017年 8月30日
特許 6190363	ウェハの欠陥検出	2017年 8月30日

54 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

6254673 6248187 6242333 6244307 6238976 6230622 6231019 6227711 6223522 6224599 6220061 6215330 6211180 6188695 6190363

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数