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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7398432	半導体検査における多モードの欠陥分類	2023年12月14日
特許 7398483	非対称ウエハ形状特徴付けのためのメトリック	2023年12月14日
特許 7394205	動的標本化プラン、最適化ウェハ計測経路及び最適化ウェハ輸送を伴い量子情報処理を用いるファブ管理	2023年12月 7日
特許 7386884	光学分散の多次元モデル	2023年11月27日
特許 7379620	高空間分解能を有するＸ線ビームの特性評価のための方法及びシステム	2023年11月14日
特許 7379661	分子状汚染物及び粒子軽減のための真空アクチュエータ封入	2023年11月14日
特許 7378530	計量ターゲットデザイン及び方法	2023年11月13日
特許 7378538	測定ウェハ装置	2023年11月13日
特許 7376588	全ウェハカバレッジ能力を有する超高感度ハイブリッド検査	2023年11月 8日
特許 7376665	透過型小角Ｘ線散乱計量システム	2023年11月 8日
特許 7376666	透過型小角Ｘ線散乱計量システム	2023年11月 8日
特許 7373527	ワークピースの欠陥検出装置及び方法	2023年11月 2日
特許 7373644	透過及び反射光を組み合わせた半導体素子の内部クラックの撮像	2023年11月 2日
特許 7369788	確率的レチクル欠陥処理	2023年10月26日
特許 7369851	オーバーレイ計測システム用の自動レシピ最適化	2023年10月26日

92 件中 1-15 件を表示

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7398432 7398483 7394205 7386884 7379620 7379661 7378530 7378538 7376588 7376665 7376666 7373527 7373644 7369788 7369851

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