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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7793014	設定可能焦点オフセットによって試料表面を追跡するための自動焦点調節システム	2025年12月26日
特許 7792027	非円形瞳を有する検査システム	2025年12月24日
特許 7788504	非線形光学結晶の不活性化方法	2025年12月18日
特許 7787902	極端紫外線検査システムにおける汚染を軽減するための対向流ガスノズル	2025年12月17日
特許 7787155	放射劣化からの光学部品の光学材料の保護	2025年12月16日
特許 7784532	走査スキャタロメトリオーバレイ計量	2025年12月11日
特許 7784530	半導体測定品質の標的モニタリングのための方法及びシステム	2025年12月11日
特許 7784496	特性評価システム及び方法	2025年12月11日
特許 7781893	高解像度の３次元撮像	2025年12月 8日
特許 7778154	ダイスクリーニングシステムおよび方法	2025年12月 1日
特許 7774064	製品上オーバレイターゲット及びオーバレイ誤差を計測する方法	2025年11月20日
特許 7774062	プロセス条件検知装置	2025年11月20日
特許 7774077	ウェハボンディングツールによって誘起されるオーバーレイ歪みパターンを軽減するためのシステムおよび方法	2025年11月20日
特許 7774080	多層試験試料の材料パラメータを決定する方法	2025年11月20日
特許 7773630	小さなターゲットを使用して校正されるオーバーレイ誤差の測定	2025年11月19日

106 件中 1-15 件を表示

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7793014 7792027 7788504 7787902 7787155 7784532 7784530 7784496 7781893 7778154 7774064 7774062 7774077 7774080 7773630

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