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ケーエルエー−テンカー コーポレイション
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第311位 105件
（
2023年：第332位 104件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第286位 108件
（2023年：第345位 92件）
（ランキング更新日：2025年4月11日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ケーエルエー−テンカー コーポレイションの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
特許 7607774
|
マルチビーム電子スキャン | 2024年12月27日 | |
| 特許 7604447
|
光学ガラス材料としての四ホウ酸ストロンチウム | 2024年12月23日 | |
| 特許 7603654
|
ＳＥＭ画像をレンダリングし、３Ｄデザインを用いて基板の欠陥撮像条件を予測するためのシステムと方法 | 2024年12月20日 | |
| 特許 7603838
|
高スループットのマルチ電子ビームシステム | 2024年12月20日 | |
| 特許 7599463
|
ウエハ検査システム及び装置 | 2024年12月13日 | |
| 特許 7599526
|
紫外及び可視波長のプラズモニックフォトカソードエミッタ | 2024年12月13日 | |
| 特許 7598872
|
Ｚ高さの絶対値を利用したツール間の相乗効果 | 2024年12月12日 | |
| 特許 7598393
|
深層学習を用いた三次元構造の検査または計測 | 2024年12月11日 | |
| 特許 7597947
|
マルチ分解能オーバーレイ計測ターゲット | 2024年12月10日 | |
| 特許 7595599
|
トポグラフィ半導体デバイスウェハの製造における位置ずれの測定方法 | 2024年12月 6日 | |
| 特許 7595756
|
半導体測定の品質を決定するための方法およびシステム | 2024年12月 6日 | |
| 特許 7592088
|
グレイ視野撮像装置及び方法 | 2024年11月29日 | |
| 特許 7592154
|
原位置ステージ補正のためのアクティブレチクルキャリア | 2024年11月29日 | |
| 特許 7592172
|
集積回路を製造するための方法とシステム | 2024年11月29日 | |
| 特許 7590545
|
ノイズのあるパターン化フィーチャの検査 | 2024年11月26日 |
108 件中 1-15 件を表示
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7607774 7604447 7603654 7603838 7599463 7599526 7598872 7598393 7597947 7595599 7595756 7592088 7592154 7592172 7590545
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