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ケーエルエー−テンカー コーポレイション

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  2024年 出願公開件数ランキング    第311位 105件 上昇2023年:第332位 104件)

  2024年 特許取得件数ランキング    第286位 108件 上昇2023年:第345位 92件)

(ランキング更新日:2025年1月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 7607774 マルチビーム電子スキャン 2024年12月27日
特許 7604447 光学ガラス材料としての四ホウ酸ストロンチウム 2024年12月23日
特許 7603654 SEM画像をレンダリングし、3Dデザインを用いて基板の欠陥撮像条件を予測するためのシステムと方法 2024年12月20日
特許 7603838 高スループットのマルチ電子ビームシステム 2024年12月20日
特許 7599463 ウエハ検査システム及び装置 2024年12月13日
特許 7599526 紫外及び可視波長のプラズモニックフォトカソードエミッタ 2024年12月13日
特許 7598872 Z高さの絶対値を利用したツール間の相乗効果 2024年12月12日
特許 7598393 深層学習を用いた三次元構造の検査または計測 2024年12月11日
特許 7597947 マルチ分解能オーバーレイ計測ターゲット 2024年12月10日
特許 7595599 トポグラフィ半導体デバイスウェハの製造における位置ずれの測定方法 2024年12月 6日
特許 7595756 半導体測定の品質を決定するための方法およびシステム 2024年12月 6日
特許 7592088 グレイ視野撮像装置及び方法 2024年11月29日
特許 7592154 原位置ステージ補正のためのアクティブレチクルキャリア 2024年11月29日
特許 7592172 集積回路を製造するための方法とシステム 2024年11月29日
特許 7590545 ノイズのあるパターン化フィーチャの検査 2024年11月26日

108 件中 1-15 件を表示

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7607774 7604447 7603654 7603838 7599463 7599526 7598872 7598393 7597947 7595599 7595756 7592088 7592154 7592172 7590545

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