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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6986555	マルチカラム走査電子顕微鏡法システムにおけるアレイ型非点収差を修正するための装置及び方法	2021年12月22日
特許 6983944	画像ベースの測定のための方法および測定システム	2021年12月17日
特許 6979404	円筒対称要素上を覆うターゲット素材を有するレーザ生成プラズマ光源	2021年12月15日
特許 6979964	光学的計測における精度改良	2021年12月15日
特許 6975799	低解像度検査画像から高分解能点拡がり関数を再構築するシステム及び方法	2021年12月 1日
特許 6971322	フォトマスク及びレチクル検査並びにウェハプリントチェック検証のためのマルチカラム間隔	2021年11月24日
特許 6968221	半導体デバイスの側面の検査装置	2021年11月17日
特許 6968793	円筒対称要素上にコーティングされたターゲット材を有するプラズマベース光源	2021年11月17日
特許 6960462	オーバレイ計量データの確率論的挙動の影響の判別	2021年11月 5日
特許 6954980	光学検査システム、光学検査方法、及びレーザー	2021年10月27日
特許 6951512	レーザ励起光源においてポンプ（励起）光と集光光とを分離するためのシステム	2021年10月20日
特許 6952025	電子源	2021年10月20日
特許 6952033	ＶＵＶ光学素子の非接触サーマル測定	2021年10月20日
特許 6952608	半導体工場自動化システムのパラメタを監視するシステム及び方法	2021年10月20日
特許 6952711	ターゲットデザイン方法、製造方法及び計量ターゲット	2021年10月20日

120 件中 1-15 件を表示

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6986555 6983944 6979404 6979964 6975799 6971322 6968221 6968793 6960462 6954980 6951512 6952025 6952033 6952608 6952711

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